全方位触控验证、测试仪器与解决方案

问题分享三：Touch Physical lnput Tests

在打点测试部分，电容式或光学式面板都容易Fail；举电容式面板来说，因其技术特性为利用排列的透明电极与人体之间的静电结合所产生的电容变化，从所产生的诱导电流来检测其坐标。在作Tap Coverage--Center（表三）时，一些比较特定的位置就容易打击不到测试要求的点；尤其，整个微软制定的测试要求为50点的位置都要过，只要发生一次Fail就需要重新调整算法及分位。

问题分享四：Touch Z Axis Test

对使用者来说，如果在使用触控面板过程中发生因为面板太过敏感，使用者尚未触控到点位时就发生了反应，这样的状况会造成很大的困扰。所以在测试面板时，Z轴的触控测试是需要注意的一个项目。厂品的算法或电流反应设计的不佳时，就会造成触控面板有类似腾空的触控反应。微软也特别在这个方面有相关的规范，在0.5 millimeter以内就有触控反应的结果是定义为Fail的。

总结来说，我们可以从实际的验证经验来归纳两类别的Fail情况，首先在装置的硬件和分位「基本宣告」方面，许多厂商的装置设定，例如Sample Rate或人因接口装置协议等，皆必须遵循其官方宣告及其相关规格要求。否则，我们在作触控测试的基础检验（basic check）时，就容易发现厂商的装置宣告并不符合我们的正式验证要求。另一方面，最容易产生Fail的情形即是实际操作「Touch Jitter」的测试时，其抖动范围不能超过1 millimeter，或未真正触摸到时就产生的Z轴报点情形等等。这部份我们准备了两套精密的触控测试仪器来协助厂商进行测试、疑难解答以及再复测的流程，透过与厂商现场的合作与交流，一起为触控验证领域发掘更多不为人知的议题。

在硬件方面，我们发现到

-触控面板的贴合有误差会导致实际上接触的点与触控面板的反应有误差，关于这种硬件端的问题则需要更换正常的触控面板。

-屏幕外框组装不良或运送过程撞击造成浮起，都必须重新锁紧或更换面板。

-红外线灯管故障，造成特定区域无法判读，则须更换红外线灯管。

在分位方面，

-触控误差过大，重新校正。

-触控误差过大，更新分位。

-触控误差过大，更新算法。

-报点或误报点，装上稳压器来解决电源噪声的干扰或更新算法。

尽管各厂商与使用者对于触控面板的发展皆抱持乐观的态度，触控的使用情境也将不断蔓延至各式的电子装置上；从目前的供应链状况来看，或许大家关心的不外乎为触控面板的产能规模或各家的供货能力。然而，市场接受度取决于终端价格与成本控制等外在因素；触控面板的良率、技术以及反应提升才是触控面板商业规模能否成功推向中、大尺寸装置的关键成功因素。

我们在此特别探讨触控验证的几项关键议题与解决方案，除了触控技术如电阻式、电容式或光学式等等不同，在验证时就必须根据其技术根本的不同来进行差异化的验证方案。触控技术的发展仍在持续演进，惟透过更深入的研究、技术资源与精力投入，才能找出关键的技术升级模式和相关解决方案，让市面上越来越普及的触控装置达到最佳良率、效能的理想目标。百佳泰推出完整的触控测试解决方案并针对这些验证过程中发现的问题肇因作出归纳性的报告，以提供相关厂商问题侦错与肇因的协寻与技术支持。另外，身为微软长期的合作伙伴，提供全方位的WHCK、WLK以及ADK验证咨询服务，我们也针对Windows RT准备专属的测试平台与环境，以最有效的验证流程与方法，协助您验证装置并通过所有测试项目的要求，迅速建立test logs以利提交认证申请。