嵌入式存储器的测试及可测性设计研究

址升序和降序等方式。这样，通过算法设计的对存储单元的各种读写过程，能够测试出绝大部分存储器故障。

常见的March系列算法包含MATS算法、March X算法、March C-算法等。各种算法的不同之处就是包含的March元素各不相同。每种March算法包含多个March元素，每个March元素都由地址变化顺序、读写的操作和操作的数据三部分组成。用表示读写的顺序可以是升序，也可以是降序；表示读写的顺序为升序；表示读写的顺序为降序；表示从存储器单元中读取的向量应该为第n个向量；表示向存储器单元中写入第n个向量。

结束语

嵌入式存储器的测试及可测性设计是随着SoC的发展而逐步发展的研究领域，近些年的研究成果取得长足的进步，但是其测试难度也是相当大的，主要问题如下：无法通过芯片的封装引脚直接访问嵌入式存储器，造成对嵌入式存储器的可控制性以及可观测性较低；任何一种测试算法都不能测试所有的故障类型，增加了测试的难度；随着嵌入式存储器容量的不断增加，所花费的测试时间也不断地增加，测试向量也越来越多，超过了目前的ATE处理能力。总之，嵌入式存储器测试及可测性设计仍需要广大学者继续努力研究。