嵌入式系统的存储测试技术及无线传输应用

时间：02-11 来源：3721RD 点击：

SPCR=（0<<3）| //CPHA=0,数据在SCK的第一个时钟沿采样

（1<<4）| //CPOL=1,SCK为低有效

（1<<5）| //MSTR=1,SPI处于主模式

（0<<6）| //LSBF=0,SPI数据传输MSB（位7）在先

（0<<7）; //SPIE=0,SPI中断被禁止

}

图3接口电路

嵌入式微控制器与NRF24L01接口电路如图3所示。

这8个引脚分别和微控制器的GPIO口相连，微控制器在初始化是设置成相应的功能。GND为电源地；VDD为正电源1.9~3.6 V输出；CE为工作模式的选择，RX或TX模式；SS为SPI片选使能，低电平使能；SCK为SPI时钟；MOSI 为SPI输入；MISO为SPI输出；IRQ为中断输出。

接收端部分代码如下：

#include "NRF24L01.h"

unsigned int RxBuf[5]; //接收缓冲，保存接收到的数据

int main（）{

NRF24L01_Initial（）; //nRF24L01初始化

while（（NRF24L01_RxStatus（））！=1）{//nRF24L01没有数据请求

*P_Watchdog_Clear=0x0001;

}

NRF24L01_ReceiveByte（RxBuf）;//接收数据

while（1）{

*P_Watchdog_Clear=0x0001;

}

3 实验数据与验证

图4是用本测试系统所测得的两条实验曲线。该曲线所测的是引信电池[8]的电压量。曲线可以分成两部分，一部分是电池电压随着时间的增加而增加，另一部分是随着时间的增加电压量保持不变。这是由引信的特殊结构所致。

经过实验论证，本测试系统在误差允许的范围内可以达到测量精度要求，从而验证了本测试系统具有较强的应用性。

4 展望

未来的嵌入式产品是软硬件紧密结合的设备，为了降低功耗和成本，需要设计者尽量精简系统内核，只保留和系统功能紧密相关的软硬件，利用最低的资源实现最适当的功能，通常都具有低功耗、体积小、集成度高等特点[9]。嵌入式系统和具体应用有机地结合在一起，它的升级换代也是和具体产品同步进行，因此嵌入式系统产品一旦进入市场，具有较长的生命周期和巨大的市场潜力。

图4 实验曲线

参考文献

[1] 祖静, 申湘南, 张文栋. 存储测试技术[J].兵工学报,1995（2）.

[2] 周立功，等.深入浅出ARM7--LPC213x/214x[M].北京：北京航空航天大学出版社,2005.

[3] 周立功,等. ARM嵌入式系统基础教程[M].北京：北京航空航天大学出版社,2005.

[4] nRF2401与SPI接口[EB/OL].[20080218].http://www.freqchina.com/SPI%20interface.pdf.

[5] ARM公司.ARM Developer Suite_CodeWarrior IDE Guide,2000.

[6] ARM公司.ARM Developer Suite_Compliers and Libraries,2000.

[7] ARM公司.ARM Developer Suite_Assembler Guide,2000.

[8] 王莹澈，田昱，朱雅鹏. 铅酸储备电池在非旋转弹引信上的应用探索[J]. 探测与控制学报，2008,30（5）:5256.

[9] http://baike.baidu.com/view/6115.htm?fr=ala0_1_1.

孙婷婷（硕士生）、马铁华（教授、博士生导师）、沈大伟（讲师），主要研究方向为动态测试与智能仪器。

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