分析系统优化小电流测量(下)

地造成的。当大量仪器插入至不同仪器架上的电源接线板时，就会形成典型的接地环路。接地点之间的电势往往存在微小差异，由此就会产生大电流循环，从而形成意料之外的电压降。

图18中所示的配置就是一个接地环路，是因为将4200信号公共端子(Force LO)和DUT LO均连接至地形成的。环路中的大接地电流通过的是小电阻，无论是导体还是在连接点。该小电阻产生的压降会影响性能。

为避免接地环路，测试系统应单点接地。如果不能消除DUT的地，那么4200的GNDU COMMON端子和机箱地之间的接地链路应断开，如图19所示。

图18. 接地环路

图19. 消除接地环路

如果怀疑存在接地环路，请将怀疑的仪器从交流电源拔出，并进行敏感的电流测量，确认问题已经解决。为了消除接地环路，尽量少采用接地，理想情况是不要超过一个。

光有些元件，例如二极管和晶体管是卓越的光检测器。因此，必须在无光环境下测试这些元件。为了确保测量准确度，检查测试夹具在门合页、管道入口及连接或连接面板上是否存在光泄露。

十一 噪声和源阻抗

噪声会严重影响敏感电流测量。DUT的源阻抗和源电容都会影响SMU的噪声性能。

DUT的源阻抗会影响SMU的反馈安培计的噪声性能。当源电阻减小时，安培计的噪声增益将增大。图20所示为反馈安培计的简化模型。

在该电路中：

R_S =源电阻

C_S =源电容

V_S =源电压

V_NOISE =安培计的噪声电压

图20. 反馈安培计的简化模型

R_F =反馈电阻

C_F =反馈电容

电路的噪声增益可由下式给出：

请注意，当源电阻(R_S)减小时，输出噪声增大。由于降低源电阻会对噪声性能产生不利影响，所以在表1中根据电流测量量程给出了最小推荐源电阻值。

表1. 最小推荐源电阻值