DDR测试技术和工具是否跟上了时代步伐？

泰克的TriMode(三模)探测技术使用单条探头与DUT链接，不仅可完成传统差分测量，而且可切换成在任一输入上进行独立单端测量或直接进行共模测量。以往，完成这些需要3个独立探头（见图3）。

图3：

左图：以往1只探头用于差分测量、2只探头用于单端测量和共模测量

或1只探头焊接和重焊三次、2只探头用于共模测量。

右图：1只TriMode探头，通过切换进行差分测量、单端测量和共模测量。

前文提到过，DDR信号不同于其他信号，其数据信号是双向的，读信号和写信号同时出现在信号线上。人们很难判断当前捕获到的数据是读信号还是写数据，这就给测试效率会很低，也比较容易出错。有了泰克公司的DDR自动测试软件选项如DDRA和DPOJET，就可使上述信号采集和分析问题迎刃而解，而且可以加速验证过程。DDRA的功能特性包括但不限于：

1.新的自动配置向导，引导用户简便地完成设置和测试配置；

2.可识别和分析整个采集中的所有读/写突发；

3.为读和写绘制DQS和DQ眼图；

4.使用Pass/Fail 极限执行JEDEC一致性测试；

5.使用片选判定多排测量；

6.简便地在一致性测试工具和分析/调试工具之间切换；

7.使用Pass/Fail信息、统计测量结果和测试设置信息，自动生成合并报告。

DDRA不是一种独立式工具，可直接与泰克强大的抖动、眼图和定时分析工具DPOJE连接，完成更多测量项目：

1.周期/频率、占空比、幅度、上升/下降时间测量；

2.高级抖动、眼图测量和Pass/Fail测试；

3.多个显示和绘图选项；

4.报告生成器等。

对于DDR的数字调试和验证，泰克的TLA7000系列逻辑分析仪+ Nexus分析软件和NEXVu插卡式DIMM夹具提供了世界领先的DDR2/3存储器数据采集、分析和协议检验及调试解决方案。

图4：泰克最新的解决方案加快和改善了DDR2/3的数字验证和调试步骤。

泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夹具探测解决方案layout符合JEDEC规范，可探测存储器IC信号，逻辑分析仪连接位置超出了普通DIMM高度，DIMM内部带有隔离电阻，降低探头负载效应，可实现最大的信号完整性堪称业界最佳的IC颗粒数字信号测量方法。

泰克提供的最新DDR3逻辑分析仪模块TLA7BBx是唯一可以捕获所有DDR3速度的逻辑分析仪，提供了足够高的定时分辨率，支持全面调试。同时提供了足够灵活的触发状态机，只触发相关事件。其通道数量可以扩充，且足够高，可以捕获所有要求的信号。

搭载的Nexus存储器支持套件有效提高了数据分析性能，检验和调试存储器系统操作（包括数据有效窗口、读/写数据操作、DDR命令和模式寄存器初始化），可迅速简便地识别协议违规。

将上述设备、工具和软件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器，泰克提供了一个全面了解系统特点的平台验证系统（如图5）。这是业界唯一能够捕获和分析所有DDR3速度的解决方案，在所有通道上一直提供了高达20 ps的定时分辨率，支持选择性时钟输入，只存储实用数据，并且数字/模拟相关联，可查看整个系统情况。

图5：泰克的DDR平台验证系统可全面了解系统特点。