微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 下一代蜂窝测试技术

下一代蜂窝测试技术

时间:09-10 来源:中电网 点击:

调试功能可以解决制造阶段中出现的非信令难题。当在生产线上部署完新一代综合测试仪后,可使用它的调试功能。如果出现问题,工程师可以使用测试设备进行各种诊断。例如,通过专用的射频频谱分析工具专门针对某种制式诊断问题,或者诊断错误序列的特定部分。操作人员可以通过前面板操控测试设备,并且通过显示屏调试射频信号。

总结


业界需要专用的非信令测试设备解决方案,以便为新的非信令芯片组的普及做好准备,最终提供更新颖、更快捷的测试技术。此外,业界还考虑在推出下一代非信令测试设备的同时重复使用现有的信令测试设备,以帮助验证新的非信令开发成果。

当启动非信令的推广和开发时,专用、灵活的新一代非信令测试设备能够发挥最大的潜力,满足未来的测试需求。在研发阶段,综合测试仪可以通过特定制式的工具提供台式测试和全面调试功能,并能够调试针对制造业设计的非信令序列。同样,其性能良好的信号源可以提供类似独立信号发生器的测试。在排序方面,它还提供了特定的工具,用于推动该信号源和分析仪同时跨过某个序列。

现有的信令测试设备能够为那些在制造过程中进行非信令测试的设备提供测试范围。新一代非信令测试设备可以提升测试速度,从而使非信令测试模式大为受益。当芯片组集成快速序列非信令测试模式,特别是在验证过程使用预定义测试序列时,新一代非信令测试设备必须用于测试射频参数。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top