下一代蜂窝测试技术

图 1：引入/过渡至非信令

选择正确的非信令测试解决方案

在非信令领域，器件测试模式的技术功能会影响对测试仪器的要求。在测试行业，测试厂商必须提供正确的工具，以便轻松地引入非信令，尤其是在使用多家厂商的芯片组时。这意味着测试设备要求必须根据每条生产线上的测试而定，无论测试需要重新使用现有信令/非信令设备，都要引入新的下一代测试设备。

贯穿非信令测试周期的任意波形文件信号设计

除了适合的测试设备硬件之外，非信令测试还需要信号设计软件包。下一代非信令测试设备使用任意波形文件向器件传输信号，这对测试设备提供下行链路（DL）的方法进行了大幅改变，并对研发和制造测试工程师提出了挑战。

使用全面的信号创建工具可以解决这一问题，这些工具能满足芯片组测试模式的要求。对于研发工程师来说，这些工具必须提供广泛的功能；对于制造工程师来说，它们必须提供关键信号参数以及易于使用的接口，以便获得良好的灵活性。为非信令提供广泛测试功能的信号设计工具必须能够简化非信令引入过程，并为手机制造商提供帮助。测试厂商可以通过与芯片组厂商以及手机制造商合作来解决关键需求，从而提供此类的专用软件包。

研发过程中的非信令――进入非信令测试

测试周期早期的可靠设计和测试模式开发可以为非信令制造测试的成功提供帮助，非信令测试设备不仅是制造阶段的要求。为了稳定且信心十足地在现有流程中引入非信令测试，整个引入过程必须借助信令测试设备。一个主要原因在于这样可以实现射频参数化关联，以便确认成功添加了具有非信令特性的测试模式。图 1 描述了从信令到非信令的过渡过程，其中信令测试设备与下一代非信令测试设备进行组合，支持测试由信令发展至非信令。

图 2：非信令测试演化的测试设备要求

非信令测试仍然需要信令测试设备的主要原因如下：

1.作为器件设计（信令和非信令测试模式之间）和制造测试过程中表示器件射频性能的可追踪参考（测量关联）

2.作为对比测试时间的起点/基准

3.可用作任意波形设计标准，用于下一代设备的接收机测试和下行链路同步，这对需要特定下行链路信号的非信令器件最为重要。

4.主要芯片组提供商和手机制造商已经同多年来一直使用信令设备作为目标平台的测试厂商展开合作，开发了多种测试模式和工具。

5.在生产线上安装的众多信令测试设备已证明是可信赖和可靠的。改用其他测试设备需要重写代码和重新评估。

尽管引入非信令需要使用现有的信令测试设备，专用且全面的非信令综合测试仪可以为研发提供强大的工具并能够在实验室中进行调试解决问题。例如：

1.作为解决方案一部分，提供前面板和用户界面

2.即用型应用程序，可以返回特定格式的测量结果，例如无需软件开发，综合测试仪便可返回射频测量结果

3.支持使用特定格式的频谱分析仪应用软件进行频谱分析

4.提供通用信号源功能，可提供与独立信号发生器相同的功能

5.支持调试错误序列

灵活的非信令解决方案是非信令器件研发中的宝贵资源。从研发到制造测试的整个过程都可以使用相同的测试设备，从而确保一致性。

为了顺利地引入 NCP，测试设备厂商需要为客户提供能够满足信令、非信令和快速排序非信令需求的测试解决方案。能够提供所有三种测试解决方案的测试厂商将占据有利位置，可以提供值得考虑的建议，并且能够为定制的非信令引入过程提供支持。

制造过程的非信令

在制造过程中，当前的信令/非信令和下一代非信令测试设备将并存。制造测试中最重要的任务是如何结合使用信令/非信令设备与新部署的下一代非信令测试设备。下节将重点介绍测试设备对于器件中两类测试模式的适用性，包括非信令测试模式和快速排序非信令测试模式。

非信令类别器件

对于时下的非信令器件（有别于快速序列非信令）来讲，现有的信令/非信令测试设备或是新一代非信令测试设备都能够显著节省测试时间。然而在使用信令测试设备进行测试时，必须要考虑具体的技术要求，以确保完整的兼容性。如前所述，新一代非信令测试设备超越信令测试设备的优势就在于其芯片组的功能更强大，测试速度更快。

此外，测试设备的性能也是解决测试模式需求的一个因素。在测试模式和测试功能允许的前提下，使用非信令支持软件升级现有的信令设备更为经济。

快速序列非信令类别器件

新一代非信令测试设备能够为快速序列非信令器件提供最佳的测试范围。由于拥有排序功能的非信令测试模式主要是在新一代非信令测试设备上部署，所以现有的信令测试设备很难发挥这一模式的最大潜能。此外，新一代非信令设备具有更高的灵活性，能够脱离信令的诸多限制，可为验证工作提供灵活的、基于序列的测试方式。例如，它能够把信令测试中作为规则强制执行的频段、蜂窝制式、信道、功率范围和时隙等方面的限制排除在外。在验证过程中，信令测试设备与新一代非信令测试设备的最大区别在于后者拥有排序功能。