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使用R系列智能数据采集进行比特错误率测试

时间:05-15 来源:Stephen Kulakowski - Harris RF Communications Division 点击:

结论

  新型系统将单位成本降低了约4 倍,并且提供了需要增加测试需求的通信接口的定制能力。

  我们现在利用两个PXI-7833R可重新配置FPGA模块,对超高速系统(超过2 Mb/s)进行研究。

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