Multicom(多无线模块)产品无线测试的挑战

骤不仅需要额外的时间，且增加了产品损坏的概率。

　　另一个选择是并行测试方案，同时测试设备的多种模式（图5）。

　　采用双头测试可进一步减少测试仪器空闲时间同时增加每个测试仪器的吞吐量。

　　并行测试的挑战之一就是消除同时进行2项或者2项以上测试时的相互干扰。最佳的测试方案，需要芯片制造商和测试系统提供商合作以降低延时以及其它因素。另一个影响因素是IC解决方案本身，单个芯片系统通常有一个多媒体处理器控制与无线功能的交互，而使用分离的无线模块允许更直接地访问无线功能，有助于开发多通信测试方案。

　　Multicom 测试和测试仪器

　　正如单一无线模块产品已经演变成Multicom产品，单一无线模块准测试演变成Multicom测试。在Multicom设备中，各种无线模块交互实现核心及外围设备，如键盘、显示器、电源及其他功能控制等。用户面对的是一个成本较低的多功能设备。以类似的方式看Multicom测试仪器，它在一个装置内提供了多种无线标准的测试，内部处理器、内存、通信接口、数字化和信号发生的硬件都是共享的，其成本低于用多个单通信标准测试仪组合而成的测试系统。

　　正如Multicom设计者们必需处理在多模式之间的相互干扰一样，一台Multicom测试仪器也应该提供并行测试选项，且不会因测试的相互干扰而产生错误。

　　Multicom设备的发展

　　如果在测试Multicom设备上没有重大突破的话，多种无线模块能在多大程度上被集成到一个设备里，就有多大程度的测试成本限制。如果测试时间线性增长，测试成本也会线性增加，产品成本就会增加。Multicom产品制造商也许只能选择减少无线功能以避免上述问题。

　　进行流水线和并行测试，再结合可以缩短单个部件测试时间的新技术，减少测试时间线性增长是可以做到的。这样手持设备制造商就可以根据市场需求在设备中添加任意多的任意功能。