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IC测试原理解析(第三部分)

时间:03-26 来源:EETCHINA 点击:
待测ADC输入两个频率分量模拟波形,再计算输出数字代码中的两个频率之和及之差信号分量。动态范围(Dynamic range)是指ADC输入信号幅度的最大值与最小值的比值,单位是dB. 理想ADC的动态范围是20log(2bits-1)。无杂波动态范围(SFDR)是指基波或载玻分量与其它非基波和载波的最大杂波的频率分量(可以是谐波或失真波)的比值,单位是dB。

到此为止,我们讨论了相对简单的存储器和逻辑芯片的测试技术,也介绍了复杂混合信号芯片的特殊测试要求。在接下来的最后一章,我们将介绍射频/无线芯片的测试。

参考文献

Mark Burns, Gordon W. Roberts An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement

Soft Test Inc. The Fundamentals of Memory Test Methodology

The Fundamentals of Mixed-Signal Testing

The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing

Anthony K. Stevens Introduction to Component Testing

Agilent Application Notes 1313

Agilen Application Notes 1314

许伟达

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