可降低下一代IC测试成本的确定性逻辑内置自测技术

内部扫描链路长度的函数。

失效诊断

如果没有准确的失效诊断，DBIST就不是一个完整的制造测试解决方案。诊断逻辑BIST测试一个不可避免的问题是，捕捉到的反应被压缩到一个只包括通过/失败信息的符号寄存器里。尽管失效扫描方案也能显示哪个扫描单元与期望值不匹配，但失效DBIST方案需要更为复杂的分析。与其它DBIST特性一样，DBIST诊断法支持TetraMAX中准确扫描诊断的现有特性。当数据失配的DBIST失效被隔离到内部扫描单元后，也能同样采用发现失败扫描方案缺陷位置的技术。

由于内部扫描单元预期反应数据不包含在DBIST方案里，所以必须收集一组DBIST方案的未压缩反应，然后使用TetraMAX模拟这些方案并判别失配的扫描单元。为整组DBIST方案收集未压缩反应在很多标准ATE上是不实际的，幸运的是，多数缺陷只需采用几个失效方案失配就可准确隔离。

为有效鉴别失效方案，DBIST方案组织成带间隔的形式，在每次间隔结束时比较MISR符号差。缺省条件下，DBIST间隔之间有32个方案(32个内部扫描负载和捕捉)，所以DBIST诊断采用的是两次通过流程。在第一次通过时失效的符号差鉴别出失效间隔，在第二次通过时，电路设置为DBIST诊断模式，重新运行一个或更多失效间隔，未压缩的反应收集到ATE上让TetraMAX处理。这种数据收集不需要ATE有特殊性能，只要有足够存储32个方案的扫描单元数据捕捉存储器即可。

本文结论

目前的设计人员和测试工程师被迫在设计流程和制造成本之间进行权衡，改善一个可能会牺牲另一个。应用确定性逻辑BIST后，DFT Compiler SoCBIST可把减少测试成本的技术集成到业界熟悉设计流程中，使得以最低成本获得最高测试质量，并对设计人员的影响最小。

作者：Mouli Chandramouli

产品市场经理

Synopsys公司

Email: mouli@synopsys.com.