利用测试排序仪器降低大批量元器件生产的测试成本

在I-V功能测试应用中，Series 2600仪器的测试速度比竞争方案高2到4倍。它们还提供更高的源测量通道密度和更低的拥有成本。模拟/数字转换器在100μs(10,000 读数/s)以内同时提供电流和电压测量，且源测量扫描速度小于每点200μs(5,500 点/s)。这种高速源测量能力加上先进的自动化功能和节省时间的软件工具，使Series 2600 SourceMeter仪器特别适用于对各种设备进行I-V测试。

Series 2600仪器采用了一种创新的技术，容许经济地创建多通道的I-V测试系统，而不必牺牲测试吞吐量。TSP-Link是一种高速系统扩展接口，它可以被用于以主/从配置连接多台Series 2600仪器。

一旦建立连接，在系统中的所有仪器可以被编程并在主单元的控制下操作，好像它们就安装在同一个机箱中一样。根据应用的要求，TSP-Link为弹性增加或减少测试系统通道的数量提供了无限的灵活性。

基于Series 2600的系统可以在主单元的测试脚本处理器(TSP)上运行高速嵌入式测试脚本。这是这些仪器具有的另外的新技术。测试序列在仪器中的嵌入式计算机上得到处理和运行，而不是利用外部控制器，从而消除了因GPIB流量拥塞造成的延迟。

TSP测试脚本实现的吞吐量可以达到同等基于PC的经GPIB的程序操作的10倍。TSP测试脚本可以从前面板或通过系统的GPIB接口运 行。单一TSP测试脚本可以控制所有在系统中的SourceMeter通道，并从任何连接到TSP链路的仪器采集数据，并支持最多连接64台Series 2600仪器。