航天科工三院33所成功自主研制测量用ASIC芯片

"通电、观察电流、输出数据、各项性能指标测试……一切正常！"日前，在中国航天科工三院33所八室ASIC试验室诞生了第一颗33所自主设计的ASIC芯片FDC3301。FDC3301的成功研制，标志着33所电子技术领域从板级拓展到了芯片级，人才队伍正由芯片的使用者向芯片的设计者转变。

由于采用FPGA的传统测频方法无法满足大动态情况下对振梁加速度计输出频率信号高速采样的要求，加之对国外芯片依赖较大，为改变现状，33所积极创新，自主开展了ASIC芯片的设计。该芯片主要用于完成振梁加速度计频率信号的同步连续测量，可直接输出被测信号浮点值频率。其各项性能指标均达到或超过了芯片规格书的要求，不仅实现了原有电路的芯片化集成，更重要的是其性能指标得到了显著的改善，量化噪声降低了一个数量级，显著提高了系统的动态特性。

ASIC芯片可应于航空航天传感器频率测量，工业领域测试和测量系统等。芯片的研制成功，为33所在电子电路专业拓展新的发展空间奠定了坚实基础。