安捷伦推出低噪声分析仪E4727A 可测量闪烁噪声及RTN

安捷伦（Agilent）日前推出EEsof EDA E4727A先进低噪声分析仪。这套结合硬件和软件的下一代噪声分析系统，可测量并分析闪烁噪声（Flicker Noise）和随机电报噪声（RTN）。

闪烁噪声长期以来被认为是重要的电子组件特性。它对于主动混频器、压控振荡器、分频器、运算放大器和比较器的性能有显着影响，而这些组件正是射频（RF）、模拟/混合（Analog/Mixed）信号，及高速有线通信应用的基础建构要件。闪烁噪声和RTN也是半导体材料与制程的敏感指标。随着半导体技术的不断推陈出新，业界更迫切需要对低频噪声进行测量。

安捷伦新的先进低噪声分析仪是为了应对新挑战而设计，其独特的模组化设计有助于降低系统噪声，并在超低频率下提供各项测量功能，提供市场理想的高电压/高电流处理能力。

安捷伦EEsof EDA器件建模产品经理Brian Chen介绍说，"安捷伦将创新测量算法纳入E4727A分析仪中，提供业界更快的测量速度，并且大幅提高客户投资报酬率。"