逻辑分析仪基础
使用少量的偏移延迟对每个通道进行双重采样的功能，以及通过使用独有的 OR 操作比较延迟的样本可进行眼定位 测量。
图14 眼定位 工作原理
当独有的 OR 输出很高时，延迟的样本会有所差别，并且会在延迟时间之间检测到转变。由于采样信号的不稳定和其他变化，眼定位 测量将对每对延迟值的多个时钟进行检查，以便报告两次延迟时间之间发生转变的频率。然后，检查另一对延迟值，依次类推，直到扫描完转变的整个时间范围。
图15 延迟值记录
因为逻辑分析仪可以调整通道的阈电压，所以眼定位 测量可在很多阈电压电平随着时间的推移对转变进行重复扫描。
图16 眼定位的多阈值扫描
通过调整阈电压和查看活动指示符，眼定位 可查找信号活动信封并确定最佳阈电压；然后通过在该阈值执行全时扫描，眼定位 可找出样本位置。
图17 眼定位的阈值和采样位置扫描
也可以在当前阈电压设置下运行全时扫描，以便仅自动设置采样位置。
图18 仅扫描采样位置
自动阈值和采样位置设置扫描通常足以确保正确采集数据，但它还可以识别您想要进一步详细查看的信号（例如，如果您想查看延迟、衰减等）。通过在整个信号活动信封内执行全时扫描，眼定位 可以显示在时间和电压的小窗口中检测到的转变。这些扫描称为眼图扫描（eye scan）。像示波器一样，眼图扫描用于显示测量数据。每个窗口中的转变数量都会突出显示。这可以使概览眼型图案，并确定是否需要使用示波器来进一步详细地查看信号。
图19 眼图扫描
可以运行导致自动设置阈电压和采样位置的 eye scan，或运行只导致自动设置采样位置的 eye scan。
眼定位 测量收集数据所基于的通道数量会影响测量时间。当一个模块中存在多个逻辑分析仪卡时将出现异常；在这种情况下，测量将同时并行运行。
支持差分信号的逻辑分析仪中的眼图扫描Eye Scan：
支持差分信号的逻辑分析仪（如16962A 逻辑分析仪模块）针对输入使用真值差分接收器：
可编程参考电压将计入负输入。这是分析仪采用单端探头时的阈电压。对于差分探测的相关操作，通常将参考电压编写为 0V：
随后将接收器的输出与 0V 进行比较，从差分输入信号产生内部逻辑信号。请注意，最终比较结果将对"差分信号高于 Vref 还是低于 Vref？"的问题作出解答：
对眼隙的 eye scan 测量是通过使用不同 Vref 设置进行一系列 eye finder 测量完成的。差分信号的默认 eye finder 测量使用 Vref=0V。通过将 Vref 增至零以上，我们会找到信号与上升的 Vref 值交叉的位置。如果 Vref 升至足够高，信号的顶部轨迹将通过 Vref，我们便会看到眼的顶端。再将 Vref 升高一点会导致 Vcomp 保持在 Vlo，表示信号不会升至该电平。反之，将 Vref 移至零以下会看到眼的下半部。
eye scan/eye finder 显示窗口会在每个信号的 eye scan 图下方显示 eye finder 交叠部分，以此显示 eye finder 与 eye scan 之间的这一关系。通过在 eye scan 图中将 Vth 水平线向上和向下移动，可以获得距离眼中心该偏移量位置处的 eye finder 视图。
无论用户界面中的阈值如何设置，逻辑分析仪的差分输入将始终 应用于接收器。这意味着可通过将电压阈值手动设置为非零值允许在差分对中使用公共模式电压。如果信号摆幅中心与地线差距大于 100 mV，eye scan 将自动执行此操作。
逻辑分析仪的触发
设置逻辑分析仪触发非常困难，而且还需花费大量时间。假设如果知道如何编程，则应该可以毫不费力地设置逻辑分析仪触发。然而，这是不可能的，因为许多概念对逻辑分析来说都是唯一的。本节的目的就是介绍这些主要概念及如何有效地使用它们。
传送带类比：我们可以将逻辑分析仪的内存比作一条很长的传送带，而从被测设备 (DUT) 获取的样本就像是传送带上的箱子。新的箱子被放置在传送带一端，而在另一端落下。换句话说，由于逻辑分析仪内存的深度（样本数量）有限，因此每当采集新样本时，如果内存已满，将会删除内存中现有的最旧的样本。如下图所示。
图20 逻辑分析仪触发的传送带类比
逻辑分析仪触发就像是放置在传送带（上面放置有多个箱子）起始位置上的箱子一样。它们的任务是"查找特殊的箱子，并在该箱子到达传送带的某一特定位置时停止运行传送带"。在此类比中，特殊的箱子就是触发。逻辑分析仪检测到与触发条件相匹配的样本后，就表示当触发位于内存中的适当位置时应停止继续采集样本。
触发在内存中的位置被称为触发位置。通常，触发位置被设置在中间，以便使触发前后出现的样本的最大数量不超出内存范围。不过，也可以将触发位置设置在内存中的任意位置。
由于逻辑分析仪触发提供了大量功能，因此下表将对本文中介绍的功能进行简要概述。该表将对这些功能进行逐一描述。