微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 测试测量 > 相位噪声基础及测试原理和方法

相位噪声基础及测试原理和方法

时间:06-28 来源:mwrf 点击:

外置一个二极管检波器,需要进行复杂的校准。另一种方法是使用AM解调的方法。使用AM解调的方法操作相对简单,并且可以同时测试相位噪声和AM噪声。采用互相关法的话还可以大大提高测试灵敏度。

相位噪声测试技术

相位噪声测试技术

5.3VCO测试

VCO测试对于VCO研发设计、生产使用具有重要的意义,目前的相位噪声分析仪可以进行完整的VCO测试,对被测VCO提供直流供电以及调谐供电,并测试VCO的所有参数。

相位噪声测试技术

相位噪声测试技术

5.4瞬态测试

基于目前的相位噪声分析仪可以进行瞬态测试,瞬态测试主要应用于跳频信号的测试,尤其是宽带跳频信号的跳频时间测试。瞬态测试一般可以分为窄带模式和宽带模式,目前宽带跳频信号的分析功能可以实现256MHz-8GHz频段范围内的跳频信号的分析。该应用使得宽带跳频时间测试变得极为简单。

相位噪声测试技术

相位噪声测试技术

6提高相位噪声测试灵敏度的互相关算法

无论测试CW信号相位噪声还是脉冲信号的相位噪声指标,亦或是测试AM噪声等相关测试,测量结果都会受到参考源和鉴相器本身相位噪声的影响。为了进一步提高测试灵敏度,降低参考源和鉴相器的影响,可以在鉴相器法或数字相位解调法的基础之上采用互相关技术。其方法的核心为互相关电路以及互相关算法。被测信号被分成两路,一路信号与一参考信号源进行鉴相或数字解调,而另一路信号则与另一参考源进行鉴相或数字解调,两路输出信号分别进行滤波、放大和ADC采样,然后进行互相关运算。互相关技术对测量灵敏度的提高程度取决于互相关运算次数。通过对10000次测量结果求和,参考振荡器和测试系统的噪声测试性能可提高20 dB。

但是,随着互相关次数的增多,测试的时间会有所加长,尤其是载波近端的相位噪声测试,多次互相关将需要很长的测试时间。尤其是鉴相器法采用互相关算法时会带来较长的测试时间,而数字相位解调法基于强大的数字信号处理能力,与鉴相器法采用互相关算法相比较,测试速度会有较大的提高,大大提高测试的效率。

相位噪声测试技术

相位噪声测试技术

7总结

相位噪声指标是射频、微波领域一项非常关键的指标,相位噪声指标的测试是研发、设计、生产、调试必须进行测试的一项指标,测试准确度要求较高,需要考虑的因素较多。最新的数字相位解调法不需要锁相环,无需环路带宽内的噪声抑制补偿,相同灵敏度下,极大提高测试效率。数字相位解调法非常易于实现脉冲相位噪声,附加相位噪声,脉冲附加相位噪声测试,VCO测试及瞬态测试等多项测试要求,可以极大的满足多方面测试要求。并且可以进行多种测试需求的并行测量。同时数字相位解调法测试比较简单,无需复杂的操作设置,测试速度快。尤其是数字相位解调法基础之上增加互相关算法进行测试,使得测试灵敏度极高,是目前进行相位噪声测试以及其他相关测试最优异的测试方法和手段。

来源:罗德与施瓦茨公司

本文为MWRF.NET独家专稿,未经允许不得转载,如需转载请联系market#mwrf.net(#换成@)

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top