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AFR自动夹具移除校准方法的原理

时间:09-23 来源:mwrf收集整理 点击:

的滤波器和使用AFR处理的测量结果的比较

AFR测量实例

用图7的PCB和DUT实例可以对AFR进行简单有效的验证。先在一个宽频率范围内做个校准,然后测量直通的特性。用上述的AFR技术计算输入端和输出端的夹具特性。图8显示了得到的夹具S参数结果。

AFR自动夹具移除校准方法的原理

图7、AFR实例

AFR自动夹具移除校准方法的原理

图8、用AFR计算PCB输入端和输出端夹具的特性

得到的夹具输入和输出回波损耗与通过时域选通对直通输入和输出失配的估计非常接近。

AFR的最后一步是在校准数据上用去嵌入去掉输入端和输出端的夹具,该校准数据就是测量直通时的那份数据。去嵌入之后,对100ohm旁路电阻进行重新测量,图9显示数据比较的结果。

虽然只用了一个直通,但AFR得到的结果相当好。S11、S22以及S21的测量都与用PCB校准件测量得到的结果非常一致。

AFR自动夹具移除校准方法的原理

图9、AFR测量与夹具内校准测量的比较

AFR测量与PCB校准件测量的残留误差在3GHz时小于-40dB,在6GHz时小于-30dB。一般来说,这些残留误差已经非常小了,而且和PCB校准件的绝对误差在同一量级。这个测量实际验证了AFR技术。

参考文献

[1] Joel P. Dunsmore   《Handbook of Microwave Component Measurements with Advanced VNA Technologies》.

摘自:《微波器件测量手册》

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