ISO72x系列数字隔离器的高压使用寿命

图 3、使用 TDDB E-模型的高压使用寿命

　　(6) 请参见参考书目 12，威布尔图更适用于诸如电容击穿等数据的分析

　　通过利用图 3 中所绘制的 TDDB E－模式，表 2 总结了不同 VIORM (Vpeak) 值情况下的使用寿命预测。

5、2 模型比较

　　与 E－模式的使用不同，其它同类竞争产品通常使用一个与其数据相匹配的任意拟合 (fit)，其并非基于任何物理介电层退化模型。如图 4 中所示的功率拟合就是其中的一个实例。图 3 中使用的相同数据在此处被绘制出来，通过使用一条如图 4 所示的功率曲线产生出一条最佳拟合趋势线。正如我们能看到的那样，通过使用这种方法有望获得更长的使用寿命。将已发布的电感耦合器件的同类竞争产品数据（也是在 10-ppm 水平时的数据）包括在内，以进行对比。通过使用以年为单位的时间刻度来发布竞争产品数据；因此，图 4 中，将这些单位从年转换到秒，以进行比较。TI 优先选择 TDDB E－模式是因为这种模式较为可靠，而且与其他模式或者最佳数据拟合方法相比较，其可以带来高可信度的预测。

图 4、基于最佳曲线拟合的高压使用寿命 6、结论 　　在 560V 的工作电压下，ISO72x 系列产品可以安全工作超过 25 年。结果还表明，隔离层是稳健的，并且可以经受高达 4000 Vpeak 或 2828 Vrms 的多种高压击穿情况（如 VIOTM 额定电压规定的那样）。