非信令测试“三站式”理念 有效降低产测成本

移动终端技术近几年发展迅速，而且这种发展势头还在延续。作为移动终端设备的代表产品，智能手机也随着LTE技术的普及以及NFC技术的兴起得到了突飞猛进的发展。智能手机功能不断升级，其应用已不再局限于通信联络及业余休闲娱乐，还覆盖到更多与工作、出行、消费、医疗等息息相关的各个方面，令消费者能够随时随地与他们所需的一切保持连线。

在消费者享受越来越便捷、越来越丰富的手机应用的同时，手机生产厂家却面临着激烈竞争。除了关注终端性能提升之外，移动终端企业正继续强化"多模"概念（即TD-LTE、FDD-LTE、GSM、TD-SCDMA 、WCDMA等多种制式），而消费者却总是希望能购买到更便宜实惠的移动终端。面对越来越多的通信制式和频段与越来越低的销售价格之间的矛盾，移动终端设备企业只能寻找最佳解决之道。事实表明，只有技术与产能并进，方能在竞争激烈的移动终端市场获一席之地。

有鉴于此，作为移动通信测试测量的领头羊，罗德与施瓦茨（R&S）公司先后提出了一系列提高生产测试效率的理念：并行测试，快速校准，非信令测试理念，快速终测，由于后三种技术除了需要综测仪支持外，还需要在芯片端做改动，因此没有芯片的支持就无法应用到生产测试中，R&S通过芯片和终端厂商的密切合作，推广并最终使这些技术应用到了生产测试中。下面针对这些技术逐一介绍。

并行测试技术

该技术为了在信令模式下进行最终测试时提高移动终端发射机测试速度而提出的。该技术率先在R&S的CMU200上得以实现，可以在信令模式下，一次测试出移动终端的功率、调制质量和频谱杂散等所有发射机指标，从而提高了信令终测下的测试速度。

快速校准技术

在生产测试中校准移动终端的收发信机时，需要改变不同频率和功率对移动终端进行测试，每个终端需要几十次这样的频率或功率改变，每次需耗时几百毫秒，所以终端耗费在改变频率/功率上的时间是非常可观的。因此R&S与芯片厂商合作，首次在测试仪器里实现了被称为Smart Alignment的快速校准技术，该技术核心思想是：终端按照事先预设的功率和频率表发射或者接收信号，综测仪用同样的预设表进行测试，从而节省终端改变功率和频率所耗费的大量时间。为了推广该技术，R&S并没有为Smart Alignment申请专利，因此其它测试仪器厂商也逐渐实现了类似的快速校准方法。目前，快速校准已经得到了全面的普及。

非信令测试的"三站式"理念

传统的手机测试分射频校准（RF Calibration）和最终测试（Final Test）两站，前者在非信令模式下校准手机的收发信机，后者在信令模式下测试手机的在不同频率和功率下的射频指标。但是，在信令模式下测试射频指标时，不少时间被信令流程耗费，因此R&S率先提出了非信令测试理念，该理念把传统的两站式改为三站式：射频校准、射频验证（RF Verification）和最终测试。新增加的射频验证站是基于非信令模式，并承担原来放在最终测试站的射频指标测试。由于射频指标测试改在非信令模式完成，因此节省了信令开销，提高测试速度。

需要注意的是，虽然从功能上分为三站，但在产线实际应用时，射频校准和射频验证可以并成一站，因为这两站都是基于手机电路板连接射频头进行测试。之后电路板被装配成整机，再进行最终测试。最终测试往往是在信令模式下用天线耦合测试，以模拟真实网络的情况，重点验证信令过程和确保装配成整机时耳麦和天线安装正常。

快速终测

非信令理念节省了在信令下被信令流程耗费的时间，但是这不够，因为，在非信令模式下对不同频率和功率进行射频指标测试仍然需要进行几十次频率/功率改变，每次仍然需耗时几百毫秒。既然R&S Smart Alignment快速校准可以通过预设频率/功率表的方法节省频率/功率改变的时间，为什么不把该方法用在非信令验证呢？所以，经过跟芯片厂商的密切合作，R&S在CMW500上实现了业界首创的基于非信令模式的快速终测技术（R&S称为 Multi-Evaluation List Mode，简称MELM），该技术正是把R&S Smart Alignment快速校准的思路应用到非信令射频验证中，从而大大加快测试速度。目前，已有不少芯片和测试仪器厂商支持该技术，并已经逐步被应用到生产测试中。

非信令测试的"三站式"理念的几个关键要素

一、芯片支持很重要。当移动终端测试从信令模式往非信令模式转变时，芯片厂商对仪器的配合和支持就变得极为重要。比如接收机测试，在传统的信令模式下，综测仪模拟基站与被测移动终端建立呼叫后进行BER测试，整个过程基于信令，所有芯片都能支持。而在非信令模式下则仪器只是播放预先生成的波形文件。由于