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LDO振荡问题求助!

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
最近做了一款LDO,流片回来后有百分之十五左右的不良率(有小振幅的振荡),测试结果:Tosc=400Hz,P-P=30mV,Cout=1uF.增加或减小输出的电容只能影响振荡频率,振幅不变,给芯片加热后振荡会慢慢消失。好的芯片降温后是不会出现振荡的,ESR电阻大小的改变也没影响的。疑问就是这百分之十五的不良率是怎么产生的呢?
Vref是没问题的,可以通过PIN外接电压,振荡还是存在,FIB做的只剩下一个环路了,AMP+BUFF+PMOS+反馈。现在没思路了,求助大神!

ESR电阻大小的改变也没影响

尝试着改改东西测试呗输入电容 输出电容ESR大小 ILOAD等等看看哪些情况下振荡哪些情况下不振

改变ESR也没变化的

测试结果就好像给负载电容充放电(空载或轻载),加大负载电流(3mA以上)至少在示波器上看不到振荡,但是分析振荡依然存在,只是由于负载电流增大,无法观察到这种充放过冲

改变芯片供电电源看看,我们以前一个客户的产品用外部LDO给芯片供电,结果芯片内部的LDO输出也是振荡,后来找了很久发现芯片的电源也有振荡,因为他用的外围LDO有问题,改了就好了。
从芯片来看,估计还是在设计时预留的闭环相位裕度不够。流片的芯片很多参数都会和MODEL有点偏差,15%的不良率这个比率还比较高。你把你的电路带着外围CAP和ESR models在各个CORNER下再RUN一下。

谢谢,电源也考虑过,当时弄了一个很大的RC,让电源缓慢上升,结果还是振荡的。外部环境只有输入电容,负载电容。改变负载电容也没用,开始怀疑ESR有问题,人为的去改变ESR大小,也只能影响到频率问题,现在没一点点思路了。corner各个极限情况都仿真过,唉!

谢谢,电源也考虑过,用了很大的RC,让电源缓慢上升,上升到工作电压后还是振荡了
corner都仿真着看过,测试能想到的都去尝试着改变让其不要振荡,但是除了加大负载电流,加热,其他改变ESR,Cout,这些都没有用

什么叫至少在示波器上看不到振荡,但是分析振荡依然存在?

因为改变负载电容,只能改变振荡频率,就好像给负载电容充放电一样,这是在空载的情况下。当有负载电流(3mA以上)的时候,相当于给了输出一个强下拉,就不存在给负载电容充放电的过程了,但是分析认为功率管栅端的振荡依然存在

自己多想想以下问题:
高温和低温对你电路影响最多的是什麽?
究竟是环路不稳定还是其他原因引起的震荡?
如果是环路震荡,同等条件下高温仿真环路GBW是多少?

一般topology可能在轻载时出现不稳定会多些,负载重时R较小,由输出电容引起的pole会向外挪,稳定性可能稍好。 不过主要取决于你环路的零极点怎样放…… 做LDO的精髓是什么,要时常问下自己

可以通过PIN外接电压

空载下的PM GM是多少?

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