芯片openface测试会漏电，但是点黑胶后漏电消除

时间：10-02 整理：3721RD 点击：

目前设计的一款CMOS芯片，功能主要是提供电压偏置和逻辑模式控制，实验室组装的openface打线测试从电源端会有漏电，漏电现象是首先降到0.8uA过个1-2秒后逐渐增大并稳定到500-600uA，但是通过点胶或封装片测试并没有漏电，也即降到0.8uA后再也没有增大的趋势。点黑胶的位置是在CMOS die上，并没有触碰到PAD和绑线。测试多颗现象可重复。实验现象感觉不好解释。漏电突然逐渐变大并稳定，感觉是电路内部有RC充放电节点，检查电路有发现有一些电路节点存在浮空态，但是不至于很慢的稳定。而且芯片顶层有绝缘层，应该也挺厚的，外界寄生电容应该很小。点黑胶能改变什么呢?压力，介电常数?
望大神指导分析，或提供实验的建议。谢谢！