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关于电容翻转型采样保持电路的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
看了一些文献,有两个问题有点模糊:1.采样阶段,运放输出端为什么要短接;
2.为什么说电容翻转结构要求输入输出共模电平相同。
求大神解答,或者告知一下在哪可以查到相关解释,谢谢!

1、reset运放输出至0V,这样保证大信号建立时间<VFS/2/SR;reset反馈电容,运放寄生电容,避免“记忆效应”。
2、你再找找,可以通过论文引用一层层检索找到出处。下面是我的分析
猜测同样是为了保证大信号建立时间,不过是共模的大信号建立。对于电容翻转型,若输入输出共模电平不同,从采样结束到保持/放大相完成,运放要给反馈电容注入额外电荷。这里的额外注入应该是共模的信号建立,大信号建立时间<(VOCM-VICM)/SR2,SR2为共模反馈环路的摆率。

以前做pipelineAD的时候都没想过问题二

输入共模电压范围需要多少才满足需求呢?
共模只是人为定义的量,单纯考虑输入共模电压范围没有意义,应该看应用时运放单端输入的变化范围,这个可能就是所谓的输入共模电压范围。

对于电容翻转型,输入共模等于输出共模,运放输入电压在CM附近几乎不变化,没有所谓的输入共模电压范围要求。其它类型的分析起来比较复杂。

很多ADC产品会带共模调节功能,差分输入共模范围很广,但这个和你提的问题无关。

谢谢解答!

再请教个问题哈,就是SR总是上不去。运放结构是单级gain-boosted,CL=7p,Iss=8mA,测试SR只有600多V/us,跟计算值差了将近一倍,这是什么原因导致的呢?

计算值和测试值差的不多,误差可能出在以下地方
计算误差: C应该包括CL和运放本身的输出寄生电容;
I,看一下实际的平均电流,可能略小于Iss;
再就是辅助运放SR.
测量的误差,要看斜率平坦的那一段的斜率。

计算值应该有1100多,测试值只有600多。辅助运放的SR比主运放好,不加辅助运放测试结果更差

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