input referred noise of latched comparator

各位：
小弟最近在用 erf probability 的方法仿真strobed latch 比较器的input referred noise，
查阅资料后觉得这是一种比较靠谱的办法，但是有些疑问如下：
既然这种办法得到erf的 standard deviation 就是input-referred noise，那么根据noise的公式，

noise 应该和latch的频率有关系。但是在电路里改动频率后，对noise的影响并不如
公式表现的如此之大。
想问问有测过input referred noise 的前辈，erf probability 方法是否有局限性，或者说两者是否能够互相验证
谢谢
ps：公式来源：
Noise estimation in strobed comparators

你能把这篇文章放上来吗?

具体可以深入研究