NMOS放在N阱里电容值的变化?
会随着VGS的变化而大幅变化吗?
通常的MOS电容会随着VGS的变化而大幅变化,
此类电容是什么样的情形呢,
望高手详细解答,不胜感激!
积累 Cap
普通 NMOS Cap 是反型
通常的说法是此类电容值不随偏值电压的变化而改变,但是我还是想知道权威的解释
可以理解为阈值电压为负值的mos管电容随栅电压变化而变化,其特性相当于一般mos在反型区的特性。所以本质上讲叫积累或反型并没有根本区别。
其实PMOS放在N阱了也可以,
但是接触到了MOS电容,都是NMOS放在N阱了,
请问这两者的区别?
两者都可以用,PMOS放在N阱就是pmos管电容。NMOS在N阱叫NCAP,除非栅电容太低,一般情况下电容值变化不大;PMOS电容对栅电容会敏感得多。
但是我接触到了DB工艺,如果NPOLY电压低于阱电压,电容会变得比正常值低很多,大概四分之一,
这样感觉和PMOS放N阱了没区别,
既然没有区别,为什么还要把NPOLY放N阱呢,不直接将PMOS放在N阱了呢?这样电路设计也方便的.
电容会变得比正常值低很多,大概四分之一?!
只有四分之一?不会吧
恩 NMOS放在N阱里也这样
学习学习谢谢
如果在很宽的柵电压范围,所看到的电容值的范围两种情况下应该是一样的,唯一的差别是相同电容值出现在不同的柵电压位置,如果电路工作条件下,MOS始终在反型区(或累积区),两者差别不大,如果有些情况下一般MOS管电容不能确保在反型区,电容值可能会变得很多,这种情况下如果希望看到比较恒定的电容值,用NCAP可能电容值往往变化会小一些。换个角度,也可以认为,两种结构的主要差别是阈值电压不同。应该根据应用环境去选择合适结构。
你这种情况模拟版图艺术一书第六章里面讲了,我前天写了个关于mos cap的帖子,希望对你有用。
http://bbs.eetop.cn/viewthread.php?tid=357864&highlight=mos%2B%B5%E7%C8%DD
Npoly/Nwell的下极板自然积累(Npoly和Nwell的功函数差),Npoly上一个很小的正压即可看成W*L*Cox. Ppoly/Nwell电容需加正偏压才能反型. 如果Poly加负压,则倒过来了
我是来学习的