LM5050-1在 汽车诊断设备 测试过程中 失效

目前在设计一款带有平板的OBD检测仪，使用LM5050-1作为SS34的替代方案，测试过程中发现，电源电压高于20V 左右，会有BIAS电阻烧毁的情况， 失效的板子，bias电压只有1V左右，调整输入电压时，VS电压不变，当电压太高试，100欧姆电阻烧毁，IC功能也不正常。另外发现有LM5050-1.在OFF为5V电压时，没有关闭MOSFET的情况。

主要问题是，什么原因可能导致 LM5050-1 失效。

电源说明，分成两组，一组用过SS34 给诊断部分供电，  另外一组通过LM5050-1给平板供电兼充电功能。

另外两路电源 说明：一路为 DC 电源，充电用，诊断时不用；另外一路为汽车OBD电源 12V，诊断时用此电源供电。

看上去是VS PIN被击穿了，VS被击穿后，电阻的损耗很大，造成Bias电阻烧毁。 没有了Bias电压，IC工作不正常了。

损坏的那一路LM5050是为OBD这一路吧， 是直接连接电池电压吗？由于汽车电池的电压瞬间会出现大于100V的可能，击穿了VS PIN脚。

建议增加在VS脚的电容，或增加一个TVS管看下效果。

我后来用新生产的板子实际测试，仍会发现，有些板子，在加电20伏左右，会有烧毁的情况。我在线路中已经增加了保护TVS二极管  SMBJ24A。

想了解下 LM5050-2 是否可以改善此问题? 这颗可以看作是LM5050-1的改进版本吗？这个取消外部BIAS，是否会有类似的失效？针对 车载产品，你们推荐用哪一款ideal diode？

LM5050-2少了VS PIN脚，应该可以解决你的问题，建议申请样品实际测试下。

@Xinming Gao：

“The nFGD pin requires an external pull-up resistor to a voltage not higher than 5.5V.”

nFGD 是否一定要上拉 到5V，现有的PCB接到VOUT，存在过压问题，是否可以断开原来的电阻，直接悬空。

另外， GATE上的电压 正常工作状态下 会比 VIN高多少，以保证N-MOSFET完全导通，在OFF为high的情况，Gate上的电压 跟VIN是什么样的关系？这些信息在哪里可以查的到 ？

不能高于5.5V，可以直接悬空

Gate是比输入高12V的。可以完全导通，但需要一个最小压差。

具体见规格书的7.3.3 13页

另外一个见规格书的7.3.1 第12页