微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > TI电源管理交流 > 对BQ76PL536 EVM-3 进行测试遇到的问题

对BQ76PL536 EVM-3 进行测试遇到的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

1.单芯片工作,即CELL1-到CELL6+接6串电芯电压端,CELL7-到CELL18+不接电芯,对BQ76PL536 EVM-3进行测试,各项参数蛮好,与规格书保持一致,

从CELL6+测试输入电流,使用配套的上位机程序,选择最快速度读取电压值,电流为<1mA,SLEEP模式电流为<30uA. 表现很好,没有发现问题。

2.多芯片级联工作遇到一个问题,在2#与3#芯片的CELL12+与CELL18+进行输入电流测试,发现输入电流很大.

     1)选取以最快速度读取电压值时测试到的电流为:  

         CELL6+电流为 0.4--0.5mA

        CELL12+电流为5--6mA

        CELL18+电流为6--7mA

     2) SLEEP 模式电流

          CELL6+电流为 33uA

          CELL12+电流为2.2mA

          CELL18+电流为1.8mA

           多芯片级联时,TOP端芯片电流消耗过大,尤其是进入SLEEP模式后,电流也在数个mA级别。作为前端电压检测芯片,是一直挂在电池上的,这个会导致电池放置一段时间后,严重漏电;尤其在电池放电截止保护后,如果电池放置未及时进行充电,后果更严重。

           这个问题望能给于解决,谢谢

应该是你进入SLEEP步骤有问题,没有真正的让536进入SLEEP模式下。如果是你自己写的程序,请进步邮箱联系我,看看问题所在。

上一篇:BQ34Z100 I2C Error
下一篇:bq34z110问题9

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top