24172内部过热关断的恢复问题

我们在设计中使用了24172，在使用过程中24172出现过热的问题，但是将温度降回常温后，24172工作状态依然不正常，需要重新对电源端进行插拔才能恢复，不知道什么原因，求教

需要重新对电源端插拔才能恢复的保护是MOSFET或电感短路保护，它会将charger latch，需要重新插入电源才能恢复，这个cycle by cycle的短路保护侦测MOSFET Ron的压降来判断是否发生短路，实际的保护电路，下管的Ron电压在打开是负压不会触发短路保护，下管短路或电感短路时才会在下管的RON侦测到一个正电压（参考buck上管打开时正常情况下sw节点的电压，上管的layout需要注意不要将sys系统电流在充电路径trace的寄生电阻压降耦合进上管短路侦测回路，建议的layout做法是system回路与charger回路 在电流sensor电阻近电池端分开，单点连接。建议检测一下该处的layout是否耦合了system电流在pcb上的分压，或者减少system电流时是否不会出现需要重新插入电源才能恢复的保护。谢谢！

恩，24172的Buck电路mos不是做在芯片内部么？这个问题是在我们做温度实验时发现，温度高了之后，24172充电不正常，而且其外部电源供电通路也无法完成供电，不知道有没有其他人遇到过这样的问题

芯片过热保护，在温度正常后，应该会自动恢复的。可以检查下，在过温下，是否其他器件不正常了，造成不正常状态保持了