I2C电路失效分析

目前的项目I2C电路在一个wafer上有18%的不良，采用的是SMIC0.35um的工艺。不良率太高了，想分析一下为什么有这18%的不良。
请问各位大侠这个I2C电路失效的一般原因都有哪些呢?
如果要做失效分析的话，要按照怎么的步骤来做呢?
请教各位了~

aaaaaaaaaaaaaaaaa看看

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理論上 0.35um 的製程應該是夠成熟穩定了, 應不會是製程上的問題,
18% 的不良, 是怎麼量到的? 用 function pattern 去 sorting 的?
可以先看看是不是 ATE 上的 function pattern 有 timing 的問題.

失效的原因有很多，没法在这里空谈，需要看现场。