微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > IC验证交流 > 关于functional pattern fault simulation

关于functional pattern fault simulation

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
求助大侠~
做functional pattern fault simulation对pattern有什么样的要求?
我现在用vcs生成evcd文件,做run_sim的时候,大部分port的exp value和got value不一致
而tetramax仿真器得到的got value为X或Z
这里是否会对fault grade有影响?因为在run_fault_sim时,coverage为0……
如何debug,或者如何设置strobe,使得run_sim没有mismatch,且提供fault grade的coverage呢?
谢谢各位了~

...速度够快的啊

着急啊……搞不出来么这不是……

帮你顶起 坐等大牛

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top