芯片不稳定，什么原因

温度，湿度的不同 这些有可能导致芯片不稳定。 还有就是电磁干扰，电源不稳定，很多因素啊

关键是我两次测试时间间隔就十几分钟，测试环境应该一直没变，因为我一直没有移动过芯片的

可以查看芯片的初始化值有没有变以及对芯片运行有没有影响

应该没问题

有bug吧

芯片工作在边界状态，即可能是寄存器或者其他时序电路的时序没做好，有时候能采到数据有时候会采不到，芯片的稳定性不行。

debug吧，不要猜测。验证环境或设计代码都有可能

感觉有bug，类似异步处理没处理好就有可能出现不稳定的情况

芯片设计在临界，时好时坏。

电压看看，是不是IR_drop，没做好，电压不够，加压试试

是不是多时钟域连到一起了，
另外遇到这种情况，需要多测片子，总结规律才好分析

基本所有被测试的芯片都有这个不稳定的问题

稳压电源供电1.38V（SMIC工艺要求1.2V），到芯片的电压为1.07V左右（并且波动峰峰值有0.6V左右啊），在PCB板上就有0.3V的压降，电流也大概0.8A，时钟也抖的厉害，是不是后端没做好啊?

错误的位置是不是有规律?测过多少片子?
worse corner的有0.9吧，应该可以，但是如果时钟抖的厉害，就得让模拟的工程师过来看看

封装了十块芯片，测试了大概6块，低频时（100MHz以下）芯片一般能正常工作，但到了400MHz就不能工作了，但DC时序报告大概能跑800MHz。还有worse corner是指工艺偏差最坏的情况吗?不过总感觉电源在PCB上压降达到25%有点不正常

为什么是DC做timing?应该以PT为准吧
没错，我说的worse corner就是lib库对应的ss corner
还好你们的芯片hold没有问题

另外，你们那个电源的问题的确不正常，你们需要分析一下，数字部分可以借助工具

时钟的问题吧

芯片管脚电流能力太弱，容易被干扰

电流是有点弱的

如果时序没有问题，一般是设计对对输入激励的采样存在相位关系，这个属于设计缺陷，一般设计要求剔除相位关系

看看电源吧。