使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量？

使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量?
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么?
有那些思路、方法与例子呢?