阻抗测量的新动态

已经好久不写技术文章啦，自春节过后也好久没有动笔，今天突然有了兴致，谈谈阻抗测量的一些变化。
谈这个话题是因为看到了几则Agilent的新闻，分别是他们最近推出的专门针对PCB工厂的E5063A，以及面向25G应用的N1055A，看看他们的典型应用。
1. E5063A
好些年前，Agilent 日本网络研发人员就在E5071C上推出了TDR选件，我们建立实验室时选择的也是这个，主要考虑是除了测S参数，还可以查看阻抗，这么些年用下来，感觉还不错，很多实验室也开始接受这种做法。由于网分测量阻抗的原理和传统的TDR很不一样，所以一开始对于网分测出来的阻抗大家还是半信半疑。但是网分所拥有的TDR无可比拟的大动态，只要频域变换到时域的滤波器等基础算法不断改进，总能在某个时间节点赶上TDR的准确性，甚至最后胜出。当然TDR的算法也在不断发展和改进，比如LeCroy公司推出的SparQ，但是TDR在物理层的弱点并没有得到大的改善。
由于这个网分主打PCB测试应用，我们来看看PCB工厂目前的测试现状，基本上高频阻抗测量都选用了IPC推荐的Tek 20GHz TDR，TDR测试阻抗的准确度没有问题，最大的隐患在于怕静电，就算加了静电释放模块，也不能完全解决这个问题，因为随着静电的不断积累，TDR模块还是会损坏，何况对于很多工厂来说，一天的测试量是相当庞大的。基于网分的阻抗测试则很好得解决了这个问题，准确、稳定、温度相对不敏感、不怕静电。至于用户关心的价格，也是非常激进。
E5063A-011 Time domain analysis/Test wizard option: $10,000
E5063A PCB Analyzer frequency options:
E5063A-245 2-port test set, 100 kHz to 4.5 GHz $18,600
E5063A-285 2-port test set, 100 kHz to 8.5 GHz $26,800
E5063A-2H5 2-port test set, 100 kHz to 18 GHz $35,100
可以做单端、差分阻抗测量，当然也可以测试S参数。

也可以并执行测量，提高吞吐

使用探头和定位器

2. N1055A
DCA-X在2010年推出，N1045A在2012年推出，这两个产品都非常经典，最有特色的地方是支持多通道的高速测量，比如对于25Gx4的应用。DCA-X是对DCA-J的重大革新，而N1045A则是首次在有限的空间中支持多个高速通道。但DCA-X推出后并没有对TDR模块更新，仍然是老旧的54754A，直到今天，Agilent才终于对TDR模块做了更新，推出了N1055A，类似于N1045A，支持最多16通道的单端TDR测量。
16通道，单端阻抗测试

上探针台测试，执行远程（Remote）测量

测试背板

占位

占位

软件还不是很好用，

你说的是E5063A吗? 这个是日本开发，的确还有不少bug，过两天放一篇2014年中的评测文章出来。

学习下

软件问题已经完美解决！

就阻抗测试来说：1. 软件已有continue sweep功能，可实时刷新波形，不用每次很傻的点测量按钮
2. 独有的Deskew+Loss校准功能，含独有的“夹具补偿”功能（与E5071C类似），确保了阻抗的测试准确性
3. 用于量产环境的测试软件可与用户工厂的ERP系统对接，直接导入TDR的测试模板，可自动切换多种不同探头，独有的长线补偿功能，可生成用户自定义格式的测试报告等。
毫不夸张的说，E5063A的硬件、软件、性能、价格，甩竞争对手几十调街！

学习

学习

看起来非常强大，请问下是否就是探头直接探入PCB连接器，不用回路就可以测量阻抗?对这块不熟悉，这一起很高大上啊！

仪器，该死的输入法！