综合仪器方法解决棘手的系统级测试

通向综合测试系统的方法

理想的DFT&M方案提供全部所需的数据和控制接口，以及DUT在被测试时为实现功能和通信所需的模拟、运算和仿真特性(即测试环境)，就好象它是被嵌入在实际系统环境内一样(图1)。

随着DUT集成度和复杂性的增加，操作行为、通信模式、功能表现以及测试环境(TE)处理的数据类型必须能通过软件重新配置和动态地再分配测试资源来调适需求。

考虑到DUT内多个内部和外部I/O(接口)进程的同时发生，TE必须能执行多个精准控制及被仔细同步的复杂测量。这种情况经常发生在实时条件下并与采样和处理数据在同一模块，且不丢失整个激励、响应和数据组流处理的连续性。

这一共时及被精准同步的过程确保结果的原因/效应关系，另外，受控和经过分析的参数的行为得以一致地保持。同步还为DFT&M工程师提供准确、低不确定性及高度关联的数据/信息。

上市时间压力持续挤压着DUT开发周期，测试系统应为DUT的可行性评估、开发、集成、验证、生产和维护各阶段提供全部测试环境能力。为现代DUT存活周期的每一阶段准备多个/独立的测试设备和测试团队从经济和可用测试资源(即，设备和人力积聚)两方面来看都不实际。这样，就需要设计出一种具有可测试和可制造性的测试环境，这种环境包含可动态、无缝并以具成本效益的方式适应DUT各阶段不同情况的综合方案和资源(图2)。

DUT集成度及复杂性的增加加之开发周期的缩短使传统测试仪器难以提供高度专业、有用和完整的现代测试功能、程式及相应结果(例如，传统仪器上的按钮和数据显示种类)。取而代之的测试方案将包括软件可配置测量平台(图3)。

这种平台利用DFT&M工程师可借助简单改编(script)、图形及其它人机接口技术进行修改、集成、排序并补充的基本测量库以最好地匹适新DUT的最新测试需求。按上述理路推论，在DUT和TE间最有可能发生水平不断增加的功能和控制/数据I/O互动。这将需要公共及整合程度更高的路线图及在DUT开发者和TE供应商间更高水平的合作。

重要的是我们要意识到，即便我们通常并没公开对其进行陈述，DUT开发者多年以来一直在其器件内嵌入IP测试核(IPTC)。当支持底层内置测试(BIT)功能时，这些IPTC本质上可非常简单。当支持由外部激励和控制的边界测试功能时，这些IPTC又可相当复杂，在边界测试时，可利用多个向量和组合通过限制在I/O层面的交互来验证DUT的完整功能。

在测试接口主要通过智能软件在DUT和TE间的交互来约定的软件定义器件内，这些情况甚至会变得更普遍。这里，只有当TE能“向外看”并能有效与DUT/TE的接口通信时，才能使DUT内置测试能力得到最充分发挥。它再一次意味着在DUT开发者和TE供应商间要进行紧密合作，彼此的路线图和开发活动要琴瑟和谐。

基于这些考虑，有人会说，在此快速变化的环境中，基于多个、单独为某一应用定制的仪器的传统测试方案将无法跟上设计、测试和维护的需要，也无法适应测试系综(ensemble)的复杂性。实际上，工程角色在迅速融合。

迫切需要一种可迅速适应新设备性能要求的DFT&M方案。新测试系统还将允许没被传统测试仪器具有的具体功能和人机接口特性所严格规束的定制测量。

在此情况，真正综合的方案允许DFT&M工程师从产品的出现到维护阶段一直无缝地工作。这种高度集成的模块化、软件驱动的综合架构还通过把受影响的陈旧问题局限于单一的集成模块而非整个测试系统，进而支持对陈旧老化问题实施主动及具成本效益的管理。

随着综合测试方案得到认同并迅速扩展其覆盖范围，确保DFT&M工程师选择具有混合集成能力以包纳各种标准的真正的综合系统就很必要。

总体上，提供经过验证了的综合测试系统方案的公司一般也开发并集成系统部件。这些公司具有在一个完全校准、同步过的且可根据标准追溯的测试下整合全部系统部件的经验和专长。只有在这种条件下，一个真正综合(即，基于测量)系统将准确、可靠并连贯地执行任务，从而提供一个真正超卓的DFT&M方案。完全综合、基于测量、高度集成、可通过软件配置并具有自适应能力的测试环境是通向未来之路。