关于ATU测试中MOS值的情况

如题。
在城区ATU测试，经常出现一些MOS差点，因为ATU是每20秒出一个MOS点，有些点前20秒无认何质差，无频繁切换，未 占用半速率的情况下出现，有些时候还会出现前20秒的时候会突然出现一个7级的质差（毛刺）。然后就会造成一个差MOS点，这种情况都很让人头疼，，求解决法案。

关于MOS质差的分析，正如你说的，两采样点间隔很长，一般很少有连续质差采样点，但我们可以同时结合RXQUAL的分析。

这个要是偶发现象不影响总体指标可以不用解决的，要是出现太多的话你就要找一找具体原因了，如上下行干扰、传输误码、基站隐形故障等。

这个情况相信经常ATU测试的人都会遇到，除了我们经常讲的传输质量，信号波动，启用半速率，频繁切换等影响MOS。本来RF传播中，受各种电磁波的干扰（高压线、一些私建直放站等），及杂散信号的影响，会有不稳定的因素出现。除此之外，信道编码抗干扰能力也受限。
所以，对于那种偶尔的毛刺貌似不必太于较真，重点还是做好保障措施，尽最大提升抗干扰能力。