自动化测试技术发展趋势展望
时间:12-17
来源:美国国家仪器公司
点击:
。高级设计工具的兴起正在改变FPGA编程的规则,使用新的技术能将图形化代码乃至C语言代码转化成数字硬件,方便工程师实现FPGA应用。NI LabVIEW能够结合处理器和FPGA的各自优势,快速实现主处理器和FPGA的处理任务。这种创新的结构能够满足传统方法所无法实现的应用挑战,比如,工程师可以将自己的处理算法部署到仪器中所嵌入的FPGA上,实时完成被测件合格/失败测试,且不占用主处理器CPU资源。
基于PFGA的可重复配置的仪器在国防和航空航天工业中已有不少应用,并且在电信、自动化、医学设备以及消费电子等领域同样具有巨大的潜力。
以上五方面的技术趋势和方法适用于所有公司——无论其所在行业,规模或全球化程度。紧跟技术前沿实现创新应用,是工程师不断努力的方向,了解并掌握这些创新型技术和方法,将有效优化测试过程且降低测试成本。
自动化测试技术 相关文章:
- NI自动化测试技术展望1:整合全公司(或机构)的测试资源(07-08)
- NI自动化测试技术展望2:系统软件栈(07-08)