3G LTE测试挑战及测试方案
时间：02-02
来源：mwrf
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新撰写，并对新的芯片设计产生很大影响。Aeroflex的测试仪表被设计成能够简单升级以适应3GPP标准的反复修改,因此对它的投资价值在LTE整个生命周期中都能体现出来。
作者：Stephen Hire
亚太区市场总监
Aeroflex公司
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