微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 模拟电路设计 > 用于电路问题诊断的双晶体管热探针

用于电路问题诊断的双晶体管热探针

时间:06-04 来源:互联网 点击:

 本例描述了一个用于电路问题诊断(如过热元件和热失控)的双晶体管热探针。虽然探针并不能提供精确的温度测量,但可以用探测二极管简单地试探某个可疑元件,从而对潜在的热问题做一次速检。电路包括指示表,可以一起装入一个小外壳内,如一个空的20g胶棒管。普通的1N4148硅信号二极管可以作为温度传感器,它有约-2mV/°C的正向压降温度系数。音量表的满量程偏起见转大约为300μA。为便于携带和充电,电路供电采用一只3.6V的可充电NiCd电池。

图1,这是一个双晶体管热探针,用于诊断电路的问题,如过热元件和热失控,多圈电位计与电表串联,可以根据温度变化,调节电表的灵敏度

电路使用了基射结二极管偏置的晶体管Q1以及Q2。在室温下调节多圈微调电位计,使得通过两个集电极的电流相匹配,从而得到零读数。当检测二极管温度高于室温时,二极管上的正向压降减小,增加了Q2集电极的电流,而Q1集电极电流下降。Q1与Q2之间集电极电流的失衡产生了流经电表的电流,从而指出有温升。与电表串联的多圈电位计可以根据温度变化情况,调节表的灵敏度(图1)。这里有电路布局以及结构细节。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top