微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 天线设计 > 天线设计文库 > 辐射、散射近场测量及近场成像技术的研究进展

辐射、散射近场测量及近场成像技术的研究进展

时间:01-13 来源:mwrf 点击:

量值由理论值与测量值的比值来定。

在此修正理论下,对金属长方体、圆柱体以及四尾翼导弹模型进行了实验测量,其成像结果是令人满意的。

3.3、目标的近场成像研究需要探讨的问题

(1)成像的分辨率

从成像实验的结果来看,与实物相比较,目标像的局部地方还有明显的失真,造成这种现象的原因之一就是成像的分辨率不够,因此,高分辨率数据处理方法仍须进一步探讨。

(2)广义成像理论的研究。

(3)误差分析。

4、结束语

该文从整体的观点出发阐述了辐射、散射、成像近场测量技术的发展动态和研究成果,对于各个研究方向的局部问题并未涉及到,目的是愿同行们从宏观上了解该技术的发展水平,为同行们的进一步研究提供一个必要的信息。

作者:张福顺,焦永昌,马金平,刘其中,张进民,毛乃宏

栏目分类

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top