基于ARM Cortex-M3的过采样技术

为了验证位数越高，采样精度越高，做了一个13位的过采样实验。采样过程中，循环8次，获得64组AD值，并利用分段折线法校正非线性误差，将采样值转换为标准电压值。从图4中可以看出，过采样后的电压值波动很小，效果尤为明显。

5 结束语
文中从过采样的频谱特性出发，分析了过采样技术的基本原理。随后采用TI公司高性价比的Cortex-M3内核ARM，利用过采样技术提高了测量值的分辨率。实验结果表明，利用过采样技术既能降低成本，又能使外围电路得到简化，它与Cortex-M3内核相结合后，更能提高系统的运行速率、可靠性与稳定性。这种结合方式对于检测、监控等领域起着积极作用，具有一定的推广和实用价值。