微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 嵌入式设计 > 基于单片机和FPGA的频率特征测试仪

基于单片机和FPGA的频率特征测试仪

时间:12-21 来源:互联网 点击:

中心频率在50 kHz左右。在中心频率上,相频特性出现突变,由负相位特性最大值突变为正相位极大值。幅频特性曲线在中心频率上出现极小值,衰减大,在其带宽范围之外网络衰减比较校因此,利用该系统设计可直观显示出一个网络的频率特性。

6 结语
该系统设计可以方便地测量未知网络在中低频的幅频特性和相频特性的曲线,并在示波器显示。该系统设计有助于学生理解电子线路理论知识,有利于自主开发简易的测量仪器。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top