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基于嵌入式MCU数据Flash的数据存储及管理方法研究与实现

时间:09-23 来源:电子产品世界 点击:

摘要:本文设计了一种利用MCU内部数据Flash存储非易失性数据的方法,它将数据Flash的若干扇区划分为多个数据分区,不同数据分区存储数据在不同历史时间的拷贝,最新数据分区存储最新的数据拷贝;在数据读操作进行时,计算最新数据拷贝的Flash存储位置,直接读取该地址;在数据写操作进行时,判断数据写入位置是否已经被擦除,如果写入位置未擦除,将数据写入下一个分区,同时将当前分区中的其他数据复制到下一个分区;如果写入位置已经擦除,直接将数据写入当前分区中。该方法实现了类似EEPROM的数据读写方式,操作方便,应用接口简单,而且可以尽量避免扇区擦除操作,提高存储效率,同时提高MCU内部数据Flash的使用寿命。

引言

在嵌入式系统设计中,经常需要存储一些非易失性的数据,在笔者开发的电动汽车仪表盘中,需要存储总里程、小计里程、电机故障等其他信息,采用支持对字节读写的EEPROM实现数据存储,操作起来和RAM一样简单方便,但同时会在大批量产品的生产中带来成本问题和维护问题。在有数据Flash的MCU中,采用数据Flash代替EEPROM实现非易失性的存储,便可以节约成本且无需维护,笔者所设计的仪表盘采用内置4KB数据闪存的MC9S12HY32做为处理器,足以满足仪表盘数据存储要求。用Flash存储数据的传统方式是为每个数据分配固定的存储地址,由于Flash在进行写操作时需要先擦除数据所在的整个扇区[1],对一个数据进行写操作便会造成对扇区内其他数据的擦除,由于擦除操作耗时较长,不仅效率低,影响嵌入式系统的实时性,而且为了避免丢失其他数据需要相当复杂的处理,对MCU的RAM空间也有一定的要求。如果写入数据失败,会造成所写入数据的丢失,如果在擦除扇区后发生掉电,便会造成扇区内所有数据的丢失。不仅如此,由于每次写入操作都需要先擦除扇区,以擦除次数表征的Flash使用寿命也无法满足产品生命周期的要求。本文提供一种利用MCU内部数据Flash存储非易失性数据的方法[2],它不仅操作方便,应用接口简单,而且可以尽量避免扇区擦除操作,提高存储效率,同时提高MCU内部数据Flash的使用寿命。

总体设计

通过在MCU数据Flash上建立多个数据分区,存储数据的多个拷贝,避免对Flash固定地址的反复擦除,提高Flash的使用寿命,同时通过数据读写方法的设计和数据分区的管理,避免对Flash扇区的不必要擦除,并最终实现和EEPROM读写很类似的应用接口。具体地,首先根据嵌入式系统的应用需求和MCU内部数据Flash的扇区大小,合理设置数据分区大小和个数,将数据Flash的若干扇区划分为多个数据分区。在每个数据分区的起始地址设置分区状态字[3],反映数据分区的存储历史时间,不同数据分区存储数据在不同历史时间的拷贝,当前数据分区存储最新的数据拷贝;同时为每个数据条目建立数据状态字,反映该数据在所在分区内存储地址是否已经被擦除。

系统上电后,首先根据数据分区状态字查找存储最新数据的分区,将之设置为最新数据分区,并设置其分区状态字为最新分区状态字。在数据读操作进行时,根据最新数据分区及数据在分区内的偏移地址计算最新数据拷贝的Flash存储位置,直接读取该地址。在数据写操作进行时,首先计算该数据的Flash存储地址,然后根据数据状态字判断数据所在的Flash存储地址是否已经被擦除[4],如果写入位置已经擦除,直接将数据写入当前分区中,其他数据保持不变;如果写入位置未擦除,进行分区拷贝操作,即将数据写入下一个分区,将当前分区中的其他数据依次复制到下一个分区,同时将下一个分区设置为最新数据分区,更新最新分区状态字并存储在最新数据分区首地址位置。其设计流程如图1所示。

具体实施

数据分区设计

首先根据嵌入式系统的应用需求和MCU内部数据Flash的扇区大小,合理设置数据分区大小和个数,将数据Flash的若干扇区划分为多个数据分区,其取值均为2的n次幂,分区以0,1,2…进行编号,个数不大于256。分区大小和个数的设置和数据Flash的扇区长度匹配起来,满足以下公式:

分区大小*分区个数=扇区大小*扇区个数 (1)

在每个数据分区的起始地址设置分区状态字,反映数据分区的存储历史时间,在分区擦除后的第一次写操作完成后更新。设置数据条目的格式为data id+data,data id取值区间为[0,254],为每个数据条目的data id和data分配偏移地址,建立数据序列,组织数据分区,数据分区的格式为:分区状态字+ data id 1 + data 1 + data id 2 + data 2…。数据分区这样的存储结构非常适合需要进行多个独立数据存储的嵌

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