便携式PXI总线数字电路板测试诊断系统

化界面向导功能，利用平台提供的各种流程模块配合相应的功能组件，用户只需输入专家知识及必要的其它信息即可建立一个具体的诊断程序。开发人员不需要学习和进行复杂的源程序编码就可以完成TPS开发，避免了以往一个电路模块对应一套诊断软件的弊端，具有很强的通用性和可扩展性。

　　目前大多数数字电路板测试系统基本上都是针对不带CPU、FPGA的数字电路板进行测试和故障诊断，这类电路板所具有的共同点就是响应与激励一一对应，即由程序控制自动测试设备向电路板输入信号，当电路板的输入确定时，电路板产生相应的输出信号，根据这种固定的输入输出关系很容易判断电路板的故障，并判断故障节点。但是对于带微处理器件的电路板，不能简单的使用这种测试方法在ATE设备上进行故障检测。由于微处理器采用三总线或者编程端口对电路进行控制，因此这类电路板的输入输出的时序并不是固定的，也就导致每次输入激励和输出响应不一定是一一对应的。针对这个问题，判断故障时必须对总线信号或端口信号进行可靠控制，以保证每次均是同步测试，也就是要保证每次输入激励信号在时序上是一致的。这样再和预期响应信号比较时才不会因为时序差别而错误判断故障。

　　微处理器的控制信号实际上是数字信号，而测试系统能提供104路以上的动态I/O信号，因此可以采用测试系统的I/O信号模拟微处理器各管脚信号，驱动电路中的其他功能模块，从而达到模拟微处理器件时序，完成同步测试的目的，并有效检测出其他功能模块的故障。如果其他功能模块均正常而电路板不能工作，则可将故障定位到微处理器上。

　　以某CPU装备板为例，验证系统的I/O测试能力。该电路板CPU通过串并行总线控制FLASH、温度传感器和驱动电机。

　　电路原理框图

　　平台可以选择I/O信号电平电压、每周期改变I/O信号方向，在软件提供的图形化开发环境编辑测试激励及响应信号，并采集响应信号，以交互式的方式对电路板进行测试。该系统能够准确定位电路板故障，有效提高了测试效率。