一种用于CMOS图像传感器集成ADC的性能测试系统

系统利用Labview的虚拟仪器实现对数据采集卡的数据采样控制，以及对采集到的数据进行分析处理。在控制数字采集卡的程序中，应设置为外时钟采样以及有限次采样模式，以实现信号的一致性采样，以及保证采集卡采样与ADC同步;在对采集到的数据进行分析处理时，考虑到系统需分析处理二种不同的测试方法，因此在将数字采集卡采集到的数字转化为U16标准数字格式后，输入到一个case结构程序框中，通过在前面板选择不同的测试模式，可以很容易的满足了测试软件对不同特性参数的测试要求。图3左为码密度测试软件的窗口，右为FFT测试软件窗口。它包含了采集卡和ADC的控制设置以及输出参数显示等功能区域。

1.4 测试结果

利用上述测试系统，对CMOS图像传感器中的8Msps 10位ADC进行了性能测试，测试结果如表2所示。

测试结果表明，此系统可有效测出ADC的各项性能参数。

2 结论

本文以CMOS图像传感器集成流水线型ADC为测试实例，以LABview为软件，搭建了一套能综合测试ADC静态和动态性能的测试系统，该系统具有测试过程操作简单、测试参数较全面及硬件成本小等特点，并通过对自主设计的ADC进行测试，结果表明该系统可较准确的表征ADC的性能。