一种LCD控制驱动电路测试方法介绍
程度及实践经验。
比如某LCD控制驱动电路,功能测试时需要通过电路的可读写双向数据口完成指令与数据的传输后,与其他逻辑单元配合再将写入的数据显示在LCD输出端口上。对其内部的RAM单元测试就完全可以通过双向口进行读写验证,无需再送至LCD驱动输出端上检验,而双向口读写速度可远快于显示输出部分,因此RAM 这样测试时,可适当加快读写时钟频率,以降低测试时间。
3.2参数测试
LCD驱动电路的其他参数测试与一般数字电路基本无异,这里提到的是个别需要关注的特殊参数。
3.2.1 LCD输出驱动测试
如前所述,在LCD驱动电路的所有参数中,LCD输出驱动(或叫LCD输出电压偏差、LCD输出端的导通电阻)是其关键参数。它对LCD显示器件的显示效果具有决定性影响,尤其对于规格较大(像素点较多)的显示器件来说,LCD控制驱动电路的驱动输出引脚数量较多,如果各引脚在相同负载下的输出电压偏差太大,那么在显示时就会出现LCD显示器上各像素显示颜色不一致的现象,因此,必须对LCD控制驱动电路的所有驱动输出引脚在相同负载下的输出电压偏差逐一进行测试,以确保其均在允许范围内。
通常测试系统的直流参数测试单元的测试时间为几到几十毫秒,因此电路的驱动输出引脚数量越多,仅此一项的测试时间就会越长,电路的测试生产成本也随之上升。较好的测试方法为:
(1)对于LCD专用测试系统,具有多个数字采样器(Digitizer),可以用来连续地进行电压采样,使电路在较短时间内就能完成此项测试。比如横河电机的ST6730测试系统是使用每个LCD输出引脚配备一个数字采样器的配置方法,而爱德万的测试系统则是每8个LCD输出引脚配备1个数字采样器。
采用数字采样器测试方法的示意图如图1.
![](../img/eep/emb/emb-475870uz5xo200l2.jpg)
图1采用数字采样器测试方法示意图
(2)某些测试系统带有pe r pin可编程负载(Active load),如果所测LCD驱动器件的各段工作电压在系统硬件允许的条件范围内,且测试通道足够多,也可以采用各LCD驱动输出脚带载进行功能测试的方法,简便、省时地在功能测试的同时完成此项参数的测试。此方法的示意图如图2.
3.2.2动态分压端漏电测试
此参数非LCD控制驱动电路说明书中的主流参数,但使用数字系统测试该类电路时,增加此项参数的测试,可有效提高电路的故障覆盖率。具体测试方法为:
写入数据,使电路LCD驱动输出端能够以棋盘格模式正常显示,然后对此时电路的各分压电平输入端进行动态漏电流测试。
![](../img/eep/emb/emb-47588crwsbj1w2xd.jpg)
图2驱动输出脚带载进行功能测试方法示意图
4结束语
随着科技的发展,LCD驱动电路的品种也日新月异,对于这一系列的电路,针对不同的电路性能,其测试方法也各有不同。本文仅对基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法做了简单介绍,并共享了一些笔者在实践中总结的测试小技巧,适用于进行LCD控制驱动电路低成本、高品质的测试。
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