msp430AD采集数据记录及分析

1、利用先锋脉冲数据采集模拟程序对实现板进行测试，

其中测试管脚的信号为：周期为2.4S 高电平时间为0.3s
设置AD时：P6SEL |= 0x08;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8;
ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_3 +ADC12div_7;
ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC;
ADC12CTL0 |= ADC12SC;
即采用第3通道，选用SMCLK（DCO） 并对其进行8分频，SHT0_8（256）选用内部参考电压2.5v

测试1，基于DCO进行的测试

经过实际测试：
周期：869 高电平：108 占空比：108/869 = 0.124
周期：870 高电平：109 占空比：109/870 = 0.125
标准：300/2400 = 0.125

理论分析：初始DCO为800K，8分频为：100K,周期为：10us
而转换一个数需要的周期数据为256+13+3=272个ADC12CLK ,
SO 转换一个数的时间为2.72ms
综上，2.4s内能完成2400/2.72=882.35个数的转换，与实测的870基本吻合。

若不考虑Tsync:则转换一个数需要的周期数据为256+13=269个ADC12CLK ,
SO 转换一个数的时间为2690ms
从而2.4S内能完成2400/2.69 = 892 (与实测的相差大)

测试2，基于外部8MHz晶体进行的测试

设置AD时：
BCSCTL1 &= ~XT2OFF; // 打开XT2高频晶体振荡器

do
{
IFG1 &= ~OFIFG; //清除晶振失败标志
for (i = 0xFF; i > 0; i--); // 等待8MHz晶体起振
}
while ((IFG1 & OFIFG)); // 晶振失效标志仍然存在？

BCSCTL2 = SELM_2+divM_3; //select XT2，并对其进行8分频，然后供给MCLK;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8; // Turn on ADC12, extend sampling timeSHT0_8

ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_2 +ADC12div_7;// Use sampling timer, repeated sequence,并对ADC时钟进行8分频

ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC; // Enable conversions
ADC12CTL0 |= ADC12SC; // Start conversion

理论分析：
初始XT2为8MHz 8分频为1MHz ,再对其进行8分频为125KHz 所以ADC12CLK的周期为8us
so 转换一个数的时间为：（256+3+13）* 8 = 2.176ms
SO 2.4S的周期能转换2400/2.176=1102.9 也即1102个数

若不考虑Tsync 则转换一个数的时间为：（256+13）* 8 = 2.152ms
SO 2.4S的周期能转换2400/2.152=1115.2 也即1115个，与实际测试仅差一个数。

实际测试：
周期：1114 高电平：139 占空比：139/1114 = 0.12477
标准：300/2400 = 0.125

2、把周期为2.4ms 高电平为300ms的脉冲信号加到另一块板子上

另一块板子采用DCO800k ,其余设置参数同上 其测试结果是：
周期：801 高电平：100 占空比：100/801 =0.1248
周期：799 高电平：99 占空比：99/799 = 0.1239
标准：300/2400 = 0.125

另一块板子采用XT2=6MHz时的测试结果：
周期：836 高电平： 104 占空比：104/836 = 0.1244
周期：836 高电平： 104 占空比：104/836 = 0.1244 可以看出（利用外部晶体重复性好）
标准：300/2400 = 0.125

理论分析：
初始XT2为6MHz 8分频为750KHz ,再对其进行8分频为93.75KHz 所以ADC12CLK的周期为10.7us
so 转换一个数的时间为：（256+3+13）* 10.7 = 2.91ms
SO 2.4S的周期能转换2400/2.91=824.7 也即824个数 {与实际测试的836基本相符}

若不考虑Tsync 则 2.4S的周期能转换2400/（269*10.67）=836.2 也即836 与实际测试完全相符

总结：就以上测试分析，可知，基本达到要求，但对DCO来说，稍有偏移，
根据DATASHEET：采样的总时间为Tsample +Tsync 但如果，不考虑Tsync,则对上面的采用外部晶体采集数据时
理论与实际完全相符。
但对DCO就不同，并且DCO,对不同的板子，虽然占空比相同，但采集数据个数也有很大的差别。这可能与DCO本身,所以为了把2.4S内的数据都采集到，应该取较大的采样数据。
随温度及环境而变化有关。