USB3.0的电路保护方案
输入端使用一个直流电源连接器,那么就必须安装一个电路保护器件来保护集线器免受过压事件的损害,如未稳流或错误电源、反向电压和瞬态电压。
图2显示了如何在VBUS上安装PolyZen器件以及在一个典型USB电路上安装6个低电容值PESD器件,才能帮助提供综合过压保护方案。
ESD保护
瞬态过压经常是由ESD引起的,它可能会出现在电源总线和数据线上。尽管现代IC可对抗高达2000V的高压,但人体很容易产生出高达25000V的静电。在I/O端口保护应用中,数据线上的ESD器件必须具备以下特性:快速箝位、快速恢复响应和极低电容值。
现有的USB 2.0协议允许高达480Mbps的数据传输速率,并支持即插即用、热插拔安装和运行。与之相比,USB 3.0规范允许高达5Gbps的数据传输速率,并向后支持较低速的USB 2.0规范。
USB 3.0增加了4个接到连接器的新引脚,以支持新的SuperSpeed接口:USB3_TX(差分对)和USB3_RX(差分对)。
USB 3.0的SuperSpeed接口与USB 2.0相比,要求更低电容值的ESD保护器件。增加极低电容值的PESD器件可以帮助最小化插入损耗,以满足USB 3.0的眼图要求。凭借0.2pF的典型电容值和大于6GHz的平坦插损区域,PESD器件能够支持USB 3.0应用的要求,并处理大量ESD瞬态电压冲击。 与大多数传统的MLV(多层变阻器)或TVS(瞬态电压抑制器)二极管技术相比,PESD器件可提供更低的电容值,而且其低触发和低箝位电压也有助于保护敏感的电子元件。PESD器件适用于USB 2.0高速D+和D-信号线以及USB 3.0 SuperSpeed信号线的ESD保护。在电路保护方案中增加PESD器件可提升保护级别,从而满足IEC61000-4-2规范要求。该规范规定接触模式的ESD测试标准是8kV(典型)/15kV(最大),空气放电模式的ESD测试标准是15kV(典型)/25kV(最大)。
综合电路保护方案
在USB应用中,一个综合保护方案可用来增强对高电流、高电压和ESD瞬态电压冲击的保护。图3和4显示了适用于USB 3.0和Powered-B连接器设计的电路保护器件。
器件推荐
PPTC过流保护器件可帮助设计师满足USB 3.0规范的新的大电流要求,并提供一种简单的、节省空间的限流解决方案。PESD器件可提供高速数据传输应用所需的低电容值(典型值0.2pF),并可提供目前电子工业最流行的外形尺寸。PolyZen器件既可为设计师提供传统箝位二极管的简单性,又消除了持续过压所需的大型散热片。该器件可保护设备免受因使用不正确的电源、瞬态电压和其它因用户错误而引起的损害。
- USB 3.1 Tx 测试总结(06-04)
- USB3.0主控端系统设计应用(12-21)
- USB 3.0和USB 2.0的九大区别(12-16)
- 雷电2、USB3.0及eSATA接口解析你该用谁?(12-16)
- 适用于USB3.0接口的新电路保护方案(12-14)
- 关于USB 3.1、USB Type(12-13)