微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 嵌入式设计 > PLC常见故障以及处理方法

PLC常见故障以及处理方法

时间:12-14 来源:互联网 点击:

(2)CPU模块的更换
1、切断电源,如插有编程器的话,把编程器拔掉。
2、向中间挤压CPU模块面板的上下紧固扣,使它们脱出卡口。
3、把模快从槽中垂直拔出。
4、如果CPU上装着EPROM存储器,把EPROM拔下,装在新的CPU上。
5、首先将印刷线路板对准底部导槽。将新的CPU模块插入底部导槽。
6、轻微的晃动CPU模块,使CPU模块对准顶部导槽。
7、把CPU模块插进框架,直到二个弹性锁扣扣进卡口。
8、重新插上编程器,并通电。
9、在对系统编程初始化后,把录在磁带上的程序重新装入。检查一下整个系统的操作。

(三)I/O模块的更换
1、切断框架和I/O系统的电源。
2、卸下I/O模块接线端上塑料盖。拆下有故障模块的现场接线。
3、拆去I/O接线端的现场接线或卸下可拆卸式接线插座,这要视模块的类型而定。给每根线贴上标签或记下安装连线的标记,以便于将来重新连接。
4、向中间挤压I/O模块的上下弹性锁扣,使它们脱出卡口。
5、垂直向上拔出I/O模块

六、PLC过程控制常见故障分析及维护
为了延长PLC控制系统的寿命,在系统设计和生产使用中要对该系统的设备消耗、元器件设备故障发生点有较明白的估计,也就是说,要知道整个系统哪些部件最容易出故障,以便采取措施。现以我厂特种水泥1号线的PLC过程控制系统为例,对PLC过程控制系统故障分布规律进行分析,希望能对PLC过程控制系统的系统设计和U常维护有所帮助。

1.系统故障的概念
系统故障一般指整个生产控制系统失效的总和,它又可分为PLC故障和现场生产控制设备故障两部分。PLC系统包括中央处理器、主机箱、扩展机箱、I/O模块及相关的网络和外部设备。现场生产控制设备包括I/O端口和现场控制检测设备,如继电器、接触器、阀门、电动机等。

2.系统的故障统计及分析处理
(1)我厂特种水泥1号线过程控制系统简介
2000年该系统改造时采用日本二菱公司的A2系列PIC为核心组成的PLC过程控制系统。
该系统有2个集中控制室:窑尾控制室和窑头控制室,其中窑头控制室为主站;2个现场工作站:窑尾生料自动配料工作站和窑尾成球盘自动加水成球工作站;2个电视监控系统:预热器进口下料监控和窑头电视看火。现场工作站是独立的微机自动控制系统,它与主站只进行模拟量的通讯和开关量的联锁。主站与从站间采用帧同步全双工通讯方式:
(2)系统
故障数据的统计
经统计,系统故障共计126次,其中PLC的故障比例约为4.7%,现场部分故障比例约为95.3%,:对照其他PLC过程控制系统的故障数据,并考虑该系统运行时间不是很长,该比例比较接近一般PLC过程控制系统的故障分布规律,有一定的普遍性。一般来讲PIC部分的故障比例约为5%,现场控制设备的故障比例约为95%。
(3)系统故障分析及处理

PLC主机系统
PLC主机系统最容易发生故障的地方一般在电源系统和通讯网络系统,电源在连续工作、散热中,电压和电流的波动冲击是不可避免的。通讯及网络受外部干扰的可能性大,外部环境是造成通讯外部设备故障的最大因素之一。系统总线的损坏主要由于现在PLC多为插件结构,长期使用插拔模块会造成局部印刷板或底板、接插件接口等处的总线损坏,在空气温度变化、湿度变化的影响下,总线的塑料老化、印刷线路的老化、接触点的氧化等都是系统总线损耗的原因。所以在系统设计和处理系统故障的时候要考虑到空气、尘埃、紫外线等因素对设备的破坏。目前PLC的主存储器大多采用可擦写ROM,其使用寿命除了主要与制作工艺相关外,还和底板的供电、CPU模块工艺水平有关。而PLC的中央处理器目前都采用高性能的处理芯片,故障率已经大大下降。对于PLC主机系统的故障的预防及处理主要是提高集中控制室的管理水平,加装降温措施,定期除尘,使PLC的外部环境符合其安装运行要求;同时在系统维修时,严格按照操作规程进行操作,谨防人为的对主机系统造成损害。
PLC的I/O端口
PLC最大的薄弱环节在I/O端口。PLC的技术优势在于其I/O端口,在主机系统的技术水平相差无几的情况下,I/O模块是体现PLC性能的关键部件,因此它也是PLC损坏中的突出环节。要减少I/O模块的故障就要减少外部各种干扰对其影响,首先要按照其使用的要求进行使用,不可随意减少其外部保护设备,其次分析主要的干扰因素,对主要干扰源要进行隔离或处理。

现场控制设备
在整个过程控制系统中最容易发生故障地点在现场,表2列出了现场中最容易出故障的几个方面。
1) 第一类故障点(也是故障最多的地点)在继电器、接触器。如该生产线PLC控制系统的日常维护中,电气备件消耗量最大的为各类继电器或空气开关。主要原因除产品本身外,就是现场环境比较恶劣,接触器触点易打火或氧化,然后发热变形直至不能使用。在该生产线上所有现场的控制箱都是选用密闭性较好的盘柜,其内部元器件较其他采用敞开式盘柜内元器件的使用寿命明显要长。所以减少此类故障应尽量选用高性能继电器,改善元器件使用环境,减少更换的频率,以减少其对系统运行的影响。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top