微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 解决MIMO技术无线区域网路生产测试新挑战

解决MIMO技术无线区域网路生产测试新挑战

时间:07-30 来源:互联网 点击:


1. 避免透过区域网路(LAN),或是OBT内建或个人电脑(PC)外接的通用序列匯流排(USB)来传送撷取资料(例如I/Q取样)。理想上,信号处理器应该要能直接存取撷取存储器的内容。
2. 尽可能从单一次撷取到的资料中执行最多次的量测,包括所有多频道的MIMO量测。
3. 选用专为快速处理OFDM信号而设计的数字信号处理器(DSP)。
4. 尽可能将最多的信号处理工作丢给具有“即时”处理能力的硬件,如FPGA可程式化逻辑晶片。
5. 尽可能简化功率量测的演算法,并将频谱量测最佳化,以善用DSP的运算资源,同时仅执行符合原始IEEE规格的频谱量测。
6. 将OBT内的频率和功率切换速度最佳化。
7. OBT的产生器要能迅速地选择和产生封包。
8. 确保OBT的功率准确度规格够好,不需要在测试机台内再使用功率錶。
些标准都达到后,就有可能以非常有效率的方式,在最理想的测试时间内,量测WLAN DUT。除此之外,只要运用适当的频道连结硬体,就可以测试MIMO DUT,且测试时间只会略微增加一点点。

快速的MIMO量测


所述,因MIMO DUT内有额外的发射器和接收器,且MIMO有特定的测试要进行,因此需要执行一些额外的量测。所需的测试方法不仅要能执行额外的测试,还要能维持量测的正确性。使用多部OBT可以达到这样的目的,然而,这种方法的成本对许多制造商来说可能太高了。另一种方法是使用单一部OBT,并设计一种方法来连接DUT和OBT,目标是要将量测速度最佳化并兼顾量测的正确性。有两种做法可供参考:


1.功率分配器/结合器(Power Splitter/Combiner)
使用功率分配器/结合器,将每一个MIMO频道与OBT相连接(图1中的上图)。这种结合的方法对某些制造商而言,或许会有吸引力,因为只要在每个频道上使用特定且已知的payload资料,可能就可以提供虚拟的EVM量测,能大致看出每个TX的效能。然而,也可能无法判定因频道隔离度不佳或暂态变化造成MIMO效能变差的状况,另外,也无法检查RX路径的MIMO效能。


2.切换矩阵(Switch Matrix)
使用切换矩阵的方法(图1中的下图)可避免这些缺点,但是否也能避免测试时间大幅增加的问题?使用这种方法也还不清楚可以量测出多真实的MIMO效能,至于测试时间的问题则可以回过头参考OBT的架构。记住:测试时间与撷取资料的处理方式比较有关,而非处理资料的时间,瞭解这一点以后,合理的下一步就是要确保取样到的所有MIMO TX信号都要出现在DSP的存储器中。这样一来,所需的额外测试时间就只会受限于DSP的能力了。这种方法可能可以测出真实的MIMO效能,如频道的隔离度和EVM,另外,也可能可以测试RX频道的隔离度。其做法有两种:一是将由DUT撷取到的原始MIMO资料传到外部进行处理,以计算出频道的隔离度;二是观察一个没有输入信号之频道的接收信号强度指示器(RSSI)或封包错误率(PER),而另一个频道则连接到产生器,藉此测定隔离度。


图1:使用单一部OBT进行MIMO测试的另一种选择


MIMO特有的测试

1.校准与调校
如同802.11a/b/g WLAN装置一样,MIMO装置也需要校准或调校。其做法是先在预先定义好的特定条件下量测DUT的原始效能、将测试资料储存在测试机台或伺服器中、然后将这份资料处理过的版本下载到DUT中。每一家晶片商都有自己偏好的校准方法。目前观察到的一般趋势是,随着新装置的出现,所执行的校准次数已变得愈来愈少,预计这样的趋势还会持续,最终有可能会免除所有的校准,以便彻底改善每个装置的总体测试时间。


2.参数测试
一旦MIMO DUT成功完成校准程序后,就应该进行完整的测试,且通过测试的机率应该要相当高。这个阶段所要执行的测试需经过审慎的挑选,以便能检测出最多已知的生产问题。许多测试项目与802.11a/b/g WLAN DUT是一样的,另外再加入一些适当的测试,以确保产品具有够高的MIMO效能:

表2:MIMO的测试项目

3.测试时间的考量
图2所示为利用一部OBT来测试802.11a/g装置时,每个项目所花的典型量测时间。

图2:测试典型的802.11a/g装置时每个项目所花费的时间比例


2.11a/g DUT的总测试时间通常介于50和80秒之间,取决于所採用的测试计画和设备。您可能会猜想说:除非每个MIMO频道都个别使用一套测试设备,否则测试时间会与频道数成正比增加,另外还要再加上一些执行MIMO特有测试的时间。不过,实际的情形是,测试时间完全取决于测试仪器的架构,以及在仪器中所设定的测试方式。由图2可以看出,功率和频谱量测是佔据总测试时间最大宗的两项,RX校准和灵敏度测试居次,剩余的其它测试仅佔了总测试时间的一小部份而已。

一步的瓶颈分析可以得知

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top