微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 测试系统开关技术

测试系统开关技术

时间:02-23 来源:电子产品世界 点击:

不同种类的信号源要在不同时间施加到DUT接脚;用多台测量仪表来测量DUT的响应。此外,对不同的DUT,常常要在不同时间使用相应的测试系统。这就要求激励源和响应信号与其接脚一一对应。这时,最佳的解决方案是采用继电器矩阵开关。汽车应用是一个典型的实例。一个引擎控制模块约有200个接脚,包括电源与地、激励氧传感器和油门传感器、激励撞击传感器和凸轮/凸轴/上止点输入的AC激励信号、连接至地和电池电压的各种开关输入。还有CAN一类串行通信,4~8个燃油喷射输出、1个点火输出、大量其它电磁阀和指示灯输出等。

一个解决方案是用一块簧片式继电器矩阵开关将16台仪表连接在4路2线模拟总线上;再用6块簧片式矩阵开关将192个DUT接脚连接在模拟总线上。DUT的电流,地和负荷则用大电流GP继电器连接。通过上述明智的选择,就可以在生产环境中来测试这类模块,每次测试时间还不到9S。■(东华)

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top