智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究

3 芯片测试方案设计
以下提出一种针对芯片模块函数的测试方案。即嵌入式Testing COS。
(1)Testing COS测试平台组成。T-COS平台由MAIN．C文件、API．C文件、常量配置、A51文件以及芯片库、LIB文件组成。其中，针对不同的芯片，main．c，api．C是相同的，而常量配置文件和芯片库文件则不同，在使用时需要更改或更换。
另外，MAIN．C文件中的CommandInterpreter()命令解释器函数是对发送命令的识别解释(在此函数中，为所有需要测试的函数定义了指令吗)。被测函数的函数体在API．C文件中。芯片库在API．C文件中被具体调用。
此Testing COS可直接写入智能卡中，设计思路是：采用直接APDU指令调用的形式，直接调用硬件模块函数，如擦一页函数。执行完指令，函数返回一个状态字。
主程序是一个死循环，如下：

命令解释器函数支持多个函数，为用户对硬件的直接操作提供接口，可以通过发送APDU指令实现对芯片的多种操作。

例如：APDU：80 00 10 00 00表示擦除地址0x1000所在页面。
APDU：80 0C 10 00 10表示从地址Oxl000开始读取长度为Oxl0的数据。
(2)Tesling COS测试平台的使用。T―COS测试 平台测试流程，如图2所示：

(3)Testing COS测试平台局限性分析。T―COS平台使用方便简洁，易于观察执行结果，但是其不能观察过程。因此，在返回结果与预期结果不一致，或者出现错误的情况下，无法判断产生错误的原因。在这种情况下，需要借助仿真器，跟踪执行过程，最终找出产生问题的原因。

4 结 语
智能卡操作系统根本的部分就在于芯片底层各个模块的稳固性。芯片层开发是电信、税控等产品开发的重要组成部分之一，也是最基础的部分。为了保证电信、税控产品可以在不同芯片之间的平稳移植，需要对芯片层的开发提出一定的要求和标准，这样可以保证上层开发的一致性。